[发明专利]一种荧光纳米支撑剂产能剖面测试方法在审

专利信息
申请号: 202110258790.3 申请日: 2021-03-10
公开(公告)号: CN112943228A 公开(公告)日: 2021-06-11
发明(设计)人: 李良杰;游智深 申请(专利权)人: 四川佳衡建设工程有限公司
主分类号: E21B47/11 分类号: E21B47/11
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610000 四川省成都市武侯*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 荧光 纳米 支撑 产能 剖面 测试 方法
【说明书】:

发明公开了一种荧光纳米支撑剂产能剖面测试方法,其属于石油开采领域,本方法是将荧光纳米材料与人工聚合物合成后再覆膜到支撑剂上,利用不同尺寸大小的荧光纳米材料能被激发出不同颜色的荧光的性质,在压裂施工时,将这种具有特定光学性质信息的荧光纳米支撑剂作为标记物,注入到油、气、水井的目标层段中,等该井返排或生产时在地面收集井内产出的油、气、水相样品,通过专门仪器分析出不同荧光纳米标记物的返排浓度,计算出各压裂层段的产油、产气和产水贡献比,从而达到产能剖面测试目的。这种荧光纳米支撑剂可耐高温、高压、酸碱盐等复杂环境,性能稳定,它在地层中缓慢释放荧光纳米标记物,可使监测有效期周长达3‑5年。

技术领域

本发明属于石油开采领域,具体属于一种荧光纳米支撑剂产能剖面测试方法。

背景技术

产能剖面测试是深入认识油气藏各目的层段产液、产气能力非常有效的一项技术。目前主要有下测井仪器监测和示踪剂监测等手段。

下测井仪器监测主要是将压力计、流量计等仪器下入到目的层段进行压力、流量等数据的采集,进而分析产能剖面。该项工艺技术需要进行井下作业,作业周期较长,成本较高,且存在仪器卡堵、断脱等风险。

示踪剂监测有化学示踪剂、放射性同位素示踪剂、稳定同位素示踪剂和痕量化学示踪剂等四代技术产品。化学示踪剂需要用量大,成本高,适应性和选择性差,测试分辨率低,有环境和人员安全问题;放射性同位素示踪剂具有放射性,对人员、环境安全不利,应用受到限制;稳定同位素示踪剂需通过室内的原子反应堆激活,其分析测试手段繁杂,费用昂贵;微量物质示踪剂受返排速率影响,测试周期短,针对气体的示踪剂种类偏少。

由于以上产品的局限性,开发了荧光纳米支撑剂产能剖面测试技术。

发明内容

针对现有产能剖面测试方法存在的问题,本发明提供一种荧光纳米支撑剂产能剖面测试方法,其目的在于:通过简单的操作,实现长期有效的产能剖面测试。

本发明采用的技术方案如下:

一种荧光纳米支撑剂产能剖面测试方法,包括以下步骤:

步骤一:收集目标井施工设计等资料数据:如井型、压裂层段数、需要测试产能的相态、每段加砂量、支撑剂规格等信息;

步骤二:依据施工设计优选荧光纳米材料:如品种、规格等;

步骤三:生产荧光纳米材料覆膜支撑剂:荧光纳米材料先与人工聚合物合成,再覆膜到支撑剂表面,一个荧光纳米材料品种规格为一种标记物,独立包装出厂,要求质检合格;

步骤四:将荧光纳米材料支撑剂运输到压裂现场;

步骤五:按施工设计将标记不同层段的荧光纳米材料支撑剂尾追注入到目标井段;

步骤六:按施工设计要求在地面收集井内产出的流体样品;

步骤七:试验室检测荧光纳米材料的产出浓度;

步骤八:出具产能剖面测试报告。

在上述方案中,先收集目标井施工设计等资料数据,落实井型、压裂层段数、需要测试产能的相态、每段加砂量、支撑剂规格等信息;再依据施工设计优选荧光纳米材料,确定品种、规格等产品参数;然后生产荧光纳米材料覆膜支撑剂,确保一个品种规格为一种标记物,独立包装出厂,要求质检合格;再将荧光纳米材料支撑剂运输到压裂现场;按施工设计将标记不同层段的荧光纳米材料支撑剂注入到目标井段;等压裂完成后在排液生产过程中,按施工设计要求在地面收集井内产出的流体样品;液体样品送到试验室检测荧光纳米材料的产出浓度;最后通过计算分析,出具产能剖面测试报告,给出油气藏各层段产能的认识,为油气开发提供技术指导。

优选的,所述荧光纳米材料有10种,且还在不断增加,其晶体尺寸范围为0-1000nm,可区分的标记物可达120种以上,油、水、气三相各40种以上。

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