[发明专利]光学芯片及其生产方法在审

专利信息
申请号: 202110260479.2 申请日: 2021-03-10
公开(公告)号: CN113135547A 公开(公告)日: 2021-07-20
发明(设计)人: 侯继东 申请(专利权)人: 苏州深水渔半导体有限公司
主分类号: B81B3/00 分类号: B81B3/00;B81B7/02;B81C1/00;G02B26/08
代理公司: 苏州睿昊知识产权代理事务所(普通合伙) 32277 代理人: 沈彬彬
地址: 215000 江*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 光学 芯片 及其 生产 方法
【权利要求书】:

1.一种光学芯片,其特征在于,包括:衬底层、一对转轴和微镜;所述微镜通过一对所述转轴被锚定在所述衬底层上,一对所述转轴分布在所述微镜的两侧;其中,在外加电场或磁场的作用下,所述微镜发生转动,一对所述转轴向远离所述衬底层的方向发生弯曲从而形成拱形。

2.一种光学芯片,其特征在于,包括:衬底层、一对转轴和微镜;所述微镜通过一对所述转轴被锚定在所述衬底层上,一对所述转轴分布在所述微镜的两侧;其中,在外加电场或磁场的作用下,所述微镜发生转动,一对所述转轴向远离所述衬底层的方向发生弯曲从而形成拱形,一对所述转轴通过生长在所述转轴上的压应力物质而形成拱形。

3.一种光学芯片,其特征在于,包括:衬底层、一对转轴和微镜;所述微镜通过一对所述转轴被锚定在所述衬底层上,一对所述转轴分布在所述微镜的两侧;其中,在外加电场或磁场的作用下,所述微镜发生转动,一对所述转轴向远离所述衬底层的方向发生弯曲从而形成拱形,一对所述转轴通过所述芯片的整体变形而形成拱形。

4.一种光学芯片,其特征在于,包括:衬底层、一对转轴和微镜;所述微镜通过一对所述转轴被锚定在所述衬底层上,一对所述转轴分布在所述微镜的两侧;其中,在外加电场或磁场的作用下,所述微镜发生转动,一对所述转轴向远离所述衬底层的方向发生弯曲从而形成拱形,一对所述转轴通过生长在所述转轴上的压应力物质和通过所述芯片的整体变形而形成拱形。

5.一种光学芯片的生产方法,其中,所述光学芯片包括衬底层、一对转轴和微镜;所述微镜通过一对所述转轴被锚定在所述衬底层上,一对所述转轴分布在所述微镜的两侧;其中,在外加电场或磁场的作用下,所述微镜发生转动,一对所述转轴向远离所述衬底层的方向发生弯曲从而形成拱形,其特征在于,包括以下步骤:利用低气压气相化学沉积在SOI硅片上生长一层多晶硅,所述SOI硅片包括依次从下到上的衬底层、绝缘层和器件层,所述多晶硅具有压应力;去除和所述衬底层相邻的一层多晶硅;用光刻胶做掩膜,通过干法刻蚀,除去和所述器件层相邻的大部分多晶硅,只保留和转轴对应区域的多晶硅;刻蚀出轴和微镜,掏空所述转轴和所述微镜下面的绝缘层,使所述转轴和所述微镜悬空。

6.如权利要求5所述的光学芯片的生产方法,其特征在于,所述绝缘层是二氧化硅时,用氢氟酸去除转轴和微镜下面的绝缘层,使转轴和微镜悬空。

7.如权利要求5所述的光学芯片的生产方法,其特征在于,所述绝缘层是有机材料时,通过氧气的等离子体或有机溶液来掏空轴和微镜下面的绝缘层,使转轴和微镜悬空。

8.如权利要求5所述的光学芯片的生产方法,其特征在于,所述转轴和微镜之间通过柔性连接,所述柔性连接采用和转轴垂直的梁来连接所述转轴和所述微镜。

9.一种光学芯片的生产方法,其中,所述光学芯片包括衬底层、一对转轴和微镜;所述微镜通过一对所述转轴被锚定在所述衬底层上,一对所述转轴分布在所述微镜的两侧;其中,在外加电场或磁场的作用下,所述微镜发生转动,一对所述转轴向远离所述衬底层的方向发生弯曲从而形成拱形,其特征在于,包括以下步骤:利用低气压气相化学沉积在SOI硅片上生长一层多晶硅,所述SOI硅片包括依次从下到上的衬底层、绝缘层和器件层,所述多晶硅具有张应力;去除和所述衬底层相邻的一层多晶硅;除去转轴和微镜对应区域的多晶硅,保留所述器件层相邻的大部分多晶硅;然后刻蚀出轴和微镜;掏空所述转轴和所述微镜下面的绝缘层,使所述转轴和所述微镜悬空。

10.一种光学芯片的生产方法,其中,所述光学芯片包括衬底层、一对转轴和微镜;所述微镜通过一对所述转轴被锚定在所述衬底层上,一对所述转轴分布在所述微镜的两侧;其中,在外加电场或磁场的作用下,所述微镜发生转动,一对所述转轴向远离所述衬底层的方向发生弯曲从而形成拱形,其特征在于,包括以下步骤:利用低气压气相化学沉积在SOI硅片上生长一层多晶硅,所述SOI硅片包括依次从下到上的衬底层、绝缘层和器件层,所述多晶硅具有压应力;去除和所述器件层相邻的一层多晶硅,保留和所述衬底层相邻的一层多晶硅;刻蚀出轴和微镜;掏空所述转轴和所述微镜下面的绝缘层,使所述转轴和所述微镜悬空。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州深水渔半导体有限公司,未经苏州深水渔半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110260479.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top