[发明专利]一种坡口缺陷检测方法、计算设备及可读存储介质

权利要求书

1.一种坡口缺陷检测方法，在计算设备中执行，适于检测管状元件端部的环形坡口的缺陷，所述方法包括：

获取待检测元件的端部图像中的环形坡口区域；

将所述环形坡口区域展开成矩形，得到矩形的坡口图像；

对矩形的坡口图像进行滑窗切分，得到多个子坡口图像；

将每个子坡口图像输入到训练好的目标检测网络中进行处理，得到有缺陷的子坡口图像中的缺陷框；

对所述缺陷框进行二值化处理，得到所述缺陷框的二值化图像；

从所述缺陷框的二值化图像中获取缺陷区域的像素坐标。

2.如权利要求1所述的方法，还包括：

将获取的缺陷区域标注到所述端部图像的相应位置。

3.如权利要求1或2所述的方法，还包括：

根据缺陷区域的形状信息和位置信息进行缺陷分类。

4.如权利要求1-3中任意一项所述的方法，其中，在所述对所述缺陷框进行二值化处理的步骤之前，还包括：

当所述缺陷框的高度小于所述子坡口图像的高度时，将所述缺陷框的高度扩大至所述子坡口图像的高度。

5.如权利要求1-4中任意一项所述的方法，其中，在所述对所述缺陷框进行二值化处理的步骤中，在不同的阈值下分别对所述缺陷框进行二值化。

6.如权利要求1-5中任意一项所述的方法，其中，所述将所述环形坡口区域展开成矩形的步骤，包括：

获取所述环形坡口区域的外径、内径和圆心坐标；

根据所述环形坡口区域的外径、内径和圆心坐标，将所述环形坡口区域展开成矩形。

7.如权利要求1-6中任意一项所述的方法，其中，所述目标检测网络包括特征提取模块、目标检测模块和输出模块。

8.如权利要求2-7中任意一项所述的方法，其中，在所述将获取的缺陷区域标注到所述端部图像的相应位置的步骤中，根据所述缺陷区域的像素坐标，利用极坐标转换法将所述缺陷区域反推至所述端部图像中进行标注。

9.一种计算设备，包括：

至少一个处理器；以及

存储器，存储有程序指令，其中，所述程序指令被配置为适于由所述至少一个处理器执行，所述程序指令包括用于执行如权利要求1-8中任一项所述方法的指令。

10.一种存储有程序指令的可读存储介质，当所述程序指令被计算设备读取并执行时，使得所述计算设备执行如权利要求1-8中任一项所述方法。