[发明专利]一种电子产品检测系统及电子产品检测装置在审

专利信息
申请号: 202110266447.3 申请日: 2021-03-11
公开(公告)号: CN113125881A 公开(公告)日: 2021-07-16
发明(设计)人: 黄欢;全世红;苏洪志;邹筱航;邓明育 申请(专利权)人: 深圳荆虹科技有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R1/04
代理公司: 深圳倚智知识产权代理事务所(普通合伙) 44632 代理人: 霍如肖
地址: 518000 广东省深圳市龙*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 电子产品 检测 系统 装置
【权利要求书】:

1.一种电子产品检测系统,其特征在于:包括测试装置及温度控制装置;所述测试装置设置有检测环境,测试装置包括温度探测器及温度调节器;所述温度探测器、温度调节器分别与温度控制装置连接;所述温度探测器探测检测环境的温度值;温度控制装置根据所述检测环境的温度值控制温度调节器的第一工作状态及第二工作状态;所述温度值为第一值时,所述温度调节器处于第一工作状态,所述温度值处于第二值时,所述温度调节器处于第二工作状态。

2.根据权利要求1所述的电子产品检测系统,其特征在于:还包括测试控制装置;该测试控制装置与待测电子产品电性连接;测试控制装置驱动待测电子产品的工作状态及将测试数据发送至待测电子产品。

3.根据权利要求2所述的电子产品检测系统,其特征在于:所述测试控制装置包括驱动模块及测试终端;所述驱动模块分别与待测电子产品及测试终端连接。

4.根据权利要求3所述的电子产品检测系统,其特征在于:所述测试终端用于采集测试图像信息对测试图像进行处理生成添加数据,并把添加数据通过驱动模块写入至待测电子产品。

5.根据权利要求3所述的电子产品检测系统,其特征在于:还包括标靶,所述测试终端采集标靶的测试图像信息。

6.根据权利要求1-5任一项所述的电子产品检测系统,其特征在于:所述温度调节器包括半导体制冷器,所述第二工作状态包括温度调节器对检测环境的温度进行升温或降温操作。

7.根据权利要求1-5任一项所述的电子产品检测系统,其特征在于:所述测试装置还包括散热器,所述散热器与温度调节器接触。

8.一种电子产品检测装置,其特征在于:包括测试装置及温度控制装置,所述测试装置包括测试夹具、温度探测器及半导体致冷器;所述测试夹具内设置有测试空间;所述温度探测器的部分设置于测试空间;所半导体制冷器与测试夹具连接;所述测试夹具至少设置有开口及第一透光口;所述开口及第一透光口分别与测试空间连通;温度控制装置根据温度探测器检测的温度值半导体致冷器的第一工作状态及第二工作状态;所述温度值为第一值时,所述半导体致冷器处于第一工作状态,所述温度值处于第二值时,所述半导体致冷器处于第二工作状态。

9.根据权利要求8所述的电子产品检测装置,其特征在于:所述测试夹具包括模组底座和模组压盖;模组压盖与模组底座的一侧通过转轴销或者活页连接。

10.根据权利要求8或9所述的电子产品检测装置,其特征在于:所述产品检测装置还包括散热器;所述散热器与半导体制冷器连接。

11.根据权利要求10所述的电子产品检测装置,其特征在于:所述散热器设置有至少一个散热腔体、流体入口及流体出口,所述流体入口及流体出口分别与散热箱体连通。

12.根据权利要求11所述的电子产品检测装置,其特征在于:所述散热器包括流体通道;所述流体通道设置于散热腔体内。

13.根据权利要求11所述的电子产品检测装置,其特征在于:所述散热器包括箱体、盖体及水管;所述箱体设置有相互连通的冷却槽;所述水管与冷却槽连通;所述盖体固定于箱体并对冷却槽进行密封形成流体通道。

14.根据权利要求8或9所述的电子产品检测装置,其特征在于:还包括保温件,所述保温件开设有保温腔,所述保温腔至少一侧开口;所述测试夹具、温度探测器及半导体致冷器分别位于保温腔内。

15.根据权利要求8或9所述的电子产品检测装置,其特征在于:还包括盒体,所述盒体开设有第二透光孔。

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