[发明专利]用于电气部件测试的插座

说明书

本公开实施例提供一种用于电气部件测试的插座，包括：插座主体，包括框架和位于框架内的接触收纳部，接触收纳部用于容纳电气部件并与电气部件电性连接；插座盖，与框架的后部铰接；及锁闩结构，锁闩结构设置在框架和插座盖中的其中一个上，锁闩结构包括两个闩杆和用于同时驱动两个闩杆相向或相背运动的开闭板，在框架和插座盖中的另一个上设置有与两个闩杆一一对应地相适配的两个第一闩孔，锁闩结构具有可通过开闭板相互切换的锁合状态和解锁状态；锁闩结构处于锁合状态时，两个闩杆处于伸出状态且分别延伸至对应的第一闩孔中；锁闩结构处于解锁状态时，两个闩杆处于缩回状态且分别与对应的第一闩孔分离。

技术领域

本公开涉及电气部件测试技术领域，特别涉及一种用于电气部件测试的插座。

背景技术

在例如IC(Integrated Circuit，集成电路)封装体等电气部件的生产过程中，需要使用相关测试设备对其进行性能测试。该测试设备一般包括布线基板，以及配置于布线基板上并与布线基板电性连接的插座。

相关技术中的一种插座，包括插座主体、插座盖和操作杆。其中，插座主体包括用于容纳电气部件并将电气部件与布线基板电性连接的接触收纳部。插座盖与插座主体铰接，通过旋转插座盖能够开闭接触收纳部。为防止插座盖被意外打开，插座盖在自由侧对称设置了两组锁闩，插座主体在前部对应每组锁闩分别设置了闩孔、锁合限位槽和解锁限位槽。操作杆与插座盖铰接，并且操作杆在铰接侧设有凸轮结构，在插座盖闭合状态，通过沿预设方向(如顺时针方向或逆时针方向)旋转操作杆至施压位置，可以使凸轮结构按压接触收纳部内的电气部件，进而使电气部件通过接触收纳部与布线基板电性连接，在此状态下，可开展对电气部件的性能测试；反之，通过沿预设方向的反方向旋转操作杆至脱离施压位置，可以解除对电气部件的按压。

上述相关技术中，当需要将插座盖和插座主体锁合时，操作者需要使用双手转动两组锁闩的拨杆，使其脱离各自的解锁限位槽，然后，反向拨动两组锁闩的拨杆，使其带动闩杆进入对应的闩孔，最后，再转动两组锁闩的拨杆，使其落入各自的锁合限位槽内；当需要将插座盖和插座主体解除锁合时，操作者需要使用双手转动两组锁闩的拨杆，使其脱离各自的锁合限位槽，然后，相向拨动两组锁闩的拨杆，使其带动闩杆脱离对应的闩孔，最后，再转动两组锁闩的拨杆，使其落入各自的解锁限位槽内。该相关技术需要操作者双手操作两组锁闩的拨杆，操作较为不便，而且，两组锁闩的闩杆随拨杆转动会承受一定扭矩，存在断裂风险。

发明内容

本公开实施例提供一种用于电气部件测试的插座，以提高插座操作使用时的便利性，提高插座盖和插座主体锁合结构的强度。

本公开实施例提供一种用于电气部件测试的插座，所述插座包括：

插座主体，包括框架和位于所述框架内的接触收纳部，所述接触收纳部用于容纳所述电气部件并与所述电气部件电性连接；

插座盖，与所述框架的后部铰接；及

锁闩结构，所述锁闩结构设置在所述框架和所述插座盖中的其中一个上，所述锁闩结构包括两个闩杆和用于同时驱动两个所述闩杆相向或相背运动的开闭板，在所述框架和所述插座盖中的另一个上设置有与两个所述闩杆一一对应地相适配的两个第一闩孔，所述锁闩结构具有可通过开闭板相互切换的锁合状态和解锁状态；所述锁闩结构处于所述锁合状态时，两个所述闩杆处于伸出状态且分别延伸至对应的所述第一闩孔中，以将所述插座盖与所述插座主体锁合；所述锁闩结构处于所述解锁状态时，两个所述闩杆处于缩回状态且分别与对应的所述第一闩孔分离，以将所述插座盖与所述插座主体解锁。

在一些实施例中，所述框架的前部具有横导孔，以及位于所述横导孔的前侧并与所述横导孔连通的呈一字型排列的两个横导槽；

所述插座盖的自由侧具有相对开设的两个所述第一闩孔，两个所述第一闩孔能够随所述插座盖旋转至一一对应的与所述横导孔的两端相对；