[发明专利]测试断路器容性电流开合的方法在审
申请号: | 202110268236.3 | 申请日: | 2021-03-12 |
公开(公告)号: | CN113466677A | 公开(公告)日: | 2021-10-01 |
发明(设计)人: | D.阿尔伯托;J-P.高蒂尔;A.帕皮伦;X.戈德肖特 | 申请(专利权)人: | 施耐德电器工业公司 |
主分类号: | G01R31/327 | 分类号: | G01R31/327 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 邸万奎 |
地址: | 法国吕埃*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测试 断路器 电流 方法 | ||
1.一种用于测试断路器的容性电流开合的方法,包括以下步骤:
通过断路器实现容性电流开合(E2),
在容性电流开合后测量断路器的端子处的电压(E2),
计算测量的电压的梯度(E3),
确定是否存在其幅度表现出大于第一预定阈值的绝对值的至少一个梯度点(E4),并且当这样的点被确定时,
识别所确定的点出现的时刻,以及将该时刻电压变化的幅度确定为电压降(E5)。
2.根据权利要求1所述的用于测试断路器的容性电流开合的方法,其中,所述电压是以大于10MHz的采样频率测量的。
3.根据权利要求1或2所述的用于测试断路器的容性电流开合的方法,其中,计算测量的电压的梯度的步骤(E3)包括对测量的电压进行高通滤波。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的用于测试断路器的容性电流开合的方法,所述断路器包括几个相,所述方法针对每个相执行,所述方法包括附加步骤:
在电压降的时刻之后,对断路器端子处的电压测量值进行插值(E6),以获得对于每个相的电压曲线,
对于每个相,计算获得的电压曲线的再充电时间(E6),
对于每个相,将获得的电压曲线的再充电时间与预定再充电时间进行比较(E6),
识别在计算的再充电时间与预定再充电时间之间存在匹配的相(E7)。
5.根据权利要求1至3中任一项所述的用于测试断路器的容性电流开合的方法,所述断路器包括几个相,所述方法针对每个相执行,所述方法包括附加步骤:
对于为每个相确定的每个点,将其梯度幅度的绝对值与第二预定阈值进行比较(E6),
识别在所确定的点处梯度幅度的绝对值大于第二预定阈值的相(E7)。
6.一种用于测试断路器的容性电流开合的站,其包括:
电气模块(11,12,13),适于通过断路器执行容性电流开合,
数据采集和处理链(2),其适于在容性电流开合后测量断路器的端子处的电压,以计算测量的电压的梯度,以确定是否存在其幅度表现出大于第一预定阈值的绝对值的至少一个梯度点,并且当这样的点被确定时,识别所确定的点出现的时刻以及将该时刻电压变化的幅度确定为电压降。
7.根据权利要求6所述的用于测试断路器的容性电流开合的站,包括:
用于产生浪涌电流的电气模块(11),
用于产生容性电流的电气模块(12),
用于在容性开合后产生恢复电压电气模块(13),
用于同步以上电气模块的同步模块(14)。
8.根据权利要求7所述的用于测试断路器的容性电流开合的站,其中,用于在容性开合后产生恢复电压的电气模块(13)包括具有可调幅度和频率的低压源(31)、升压变压器(32)和整流电路(33)。
9.根据权利要求6至8中任一项所述的用于测试开合的站,包括用于执行计算机程序的计算机,所述计算机程序包括用于执行根据权利要求1至5中任一项所述的方法的步骤的指令。
10.根据权利要求9所述的用于测试开合的站,包括在其上存储计算机程序的存储介质。
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