[发明专利]一种新型高能激光光束质量测量装置在审

专利信息
申请号: 202110268318.8 申请日: 2021-03-12
公开(公告)号: CN112924024A 公开(公告)日: 2021-06-08
发明(设计)人: 白金玺;张霖;巴荣声;马骅;石振东;刘丽佳;马可;杨一;柴立群;任寰 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
主分类号: G01J1/42 分类号: G01J1/42;G01J1/44;G01J1/04
代理公司: 成都弘毅天承知识产权代理有限公司 51230 代理人: 轩勇丽
地址: 621900 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 新型 高能 激光 光束 质量 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种新型高能激光光束质量测量装置,包括待测激光光源(1),其特征在于,还包括高灵敏度线阵CCD(2)、成像镜头(3)、瑞利散射体(4)、高精密电动转台(5)、高精密电动转台(5)运动控制器及计算机(7);所述瑞利散射体(4)沿高精密电动转台(5)的中间通孔轴心垂直固定于高精密电动转台(5)的转盘上,所述成像镜头(3)与高灵敏度线阵CCD(2)固定连接,所述高灵敏度线阵CCD(2)使成像镜头(3)紧贴所述瑞利散射体(4)的情况下垂直固定于所述高精密电动转台(5)的转盘上,待测激光光源(1)垂直入射到所述瑞利散射体(4)并沿瑞利散射体(4)轴线穿过,通过高精密电动转台(5)运动控制器使所述瑞利散射体(4)、高灵敏度线阵CCD(2)沿所述待测激光光源(1)的光束光轴旋转,完成对待测激光光源(1)输出光束各方向瑞利散射信号采集,经计算机(7)完成数据处理,生成所述待测激光光源(1)输出光束三维、二维光强分布,以及光束传播因子M2与光束质量因子β的计算值。

2.根据权利要求1所述的一种新型高能激光光束质量测量装置,其特征在于,所述计算机(7)用于显示待测激光光源(1)在瑞利散射体(4)内部的光强分布及各类光束质量因子。

3.根据权利要求1所述的一种新型高能激光光束质量测量装置,其特征在于,所述待测激光光源(1)为低功率激光器或高能激光器;当待测激光光源(1)为低功率激光器时,激光器输出功率最低在10mW以上。

4.根据权利要求1所述的一种新型高能激光光束质量测量装置,其特征在于,当待测激光光源(1)的功率不超过熔石英损伤阈值,瑞利散射体(4)材料采用熔石英块;当待测激光光源(1)的功率超过熔石英损伤阈值,则瑞利散射体(4)材料采用空气。

5.根据权利要求1所述的一种新型高能激光光束质量测量装置,其特征在于,所述高灵敏度线阵CCD(2)的工作波长为400nm-1100nm。

6.根据权利要求1所述的一种新型高能激光光束质量测量装置,其特征在于,所述成像镜头(3)为变焦镜头,为紧凑型VIS-NIR镜头。

7.根据权利要求1所述的一种新型高能激光光束质量测量装置,其特征在于,所述高精密电动转台(5)为中空的高稳定性电动精密转台。

8.根据权利要求1所述的一种新型高能激光光束质量测量装置,其特征在于,所述成像镜头(3)与高灵敏度线阵CCD(2)通过标准C口连接。

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