[发明专利]光检测装置及其检测方法在审
申请号: | 202110268585.5 | 申请日: | 2021-03-12 |
公开(公告)号: | CN113017658A | 公开(公告)日: | 2021-06-25 |
发明(设计)人: | 陈培铭 | 申请(专利权)人: | 友达光电股份有限公司 |
主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 傅磊;黄艳 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 装置 及其 方法 | ||
1.一种光检测装置,包括:
一栅极驱动电路;
多个读取电路;以及
一光感测面板,包括:
多条栅极线,耦接该栅极驱动电路,该栅极驱动电路于一驱动期间以N条栅极线为单位,按序地驱动该些栅极线,其中N为大于1的整数;
多条数据线;
多个感测像素,分别耦接对应的栅极线与数据线,感测一辐射光而产生多个感测信号;以及
一选择电路,耦接该些数据线与该些读取电路,于该驱动期间将该些数据线切换连接至多个被选择的读取电路,并断开多个未被选择的读取电路与该些数据线之间的连接,其中各该被选择的读取电路分别通过该选择电路接收对应的M条数据线上的感测信号,M为大于1的整数。
2.如权利要求1所述的光检测装置,其中该选择电路包括:
多个第一开关电路,分别耦接该对应的M条数据线,于该驱动期间导通该对应的M条数据线间的连接路径,而将该对应的M条数据线上的感测信号提供给对应的被选择的读取电路;以及
多个第二开关电路,耦接该些未被选择的读取电路以及与该些未被选择的读取电路对应的多条数据线,其中各该第二开关电路耦接对应的M-1条数据线与对应的未被选择的读取电路,各该第二开关电路于该驱动期间断开该对应的M-1条数据线与该对应的未被选择的读取电路间的连接路径。
3.如权利要求2所述的光检测装置,其中M等于2,各该第一开关电路包括一第一晶体管,耦接于对应的2条数据线之间,该第一晶体管于该驱动期间被导通,各该第二开关电路包括一第二晶体管,耦接于对应的1条数据线与对应的1个未被选择的读取电路之间,该第二晶体管于该驱动期间被断开。
4.如权利要求3所述的光检测装置,其中N等于2。
5.如权利要求2所述的光检测装置,其中M等于3,各该第一开关电路包括一第一晶体管与一第二晶体管,其中该第一晶体管与该第二晶体管分别耦接于对应的2条数据线之间,该第一晶体管与该第二晶体管于该驱动期间被导通,各该第二开关电路包括一第三晶体管与一第四晶体管,分别耦接于对应的1条数据线与对应的1个未被选择的读取电路之间,该第三晶体管与该第四晶体管于该驱动期间被断开。
6.如权利要求5所述的光检测装置,其中N等于3。
7.如权利要求2所述的光检测装置,其中该选择电路还包括:
多个第三开关电路,耦接于该些被选择的读取电路以及对应的多条数据线之间,该些第三开关电路于该驱动期间被导通。
8.如权利要求7所述的光检测装置,其中各该第三开关电路为一晶体管。
9.一种光检测装置的检测方法,该光检测装置包括一光感测面板以及多个读取电路,该光感测面板包括多条栅极线、多条数据线、多个感测像素以及一选择电路,该些感测像素分别耦接对应的栅极线与数据线,该选择电路耦接该些数据线与该些读取电路,该光检测装置的检测方法包括:
于一驱动期间以N条栅极线为单位,按序地驱动该些栅极线,其中N为大于1的整数;
于该驱动期间控制该选择电路将该些数据线切换连接至多个被选择的读取电路,并断开多个未被选择的读取电路与该些数据线之间的连接;以及
各该被选择的读取电路分别通过该选择电路接收对应的M条数据线上的感测信号,M为大于1的整数。
10.如权利要求9所述的光检测装置的检测方法,其中该选择电路包括多个第一开关电路以及多个第二开关电路,各该第一开关电路分别耦接对应的M条数据线,该些第二开关电路耦接该些未被选择的读取电路以及与该些未被选择的读取电路对应的多条数据线,其中各该第二开关电路耦接对应的M-1条数据线与对应的未被选择的读取电路,该光检测装置的检测方法包括:
于该驱动期间控制各该第一开关电路导通该对应的M条数据线间的连接路径,而将该对应的M条数据线上的感测信号提供给对应的被选择的读取电路,并控制各该第二开关电路断开该对应的M-1条数据线与该对应的未被选择的读取电路间的连接路径。
11.如权利要求10所述的光检测装置的检测方法,其中该选择电路还包括多个第三开关电路,该些第三开关电路耦接于该些被选择的读取电路以及对应的多条数据线之间,该光检测装置的检测方法包括:
于该驱动期间导通该些第三开关电路。
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