[发明专利]一种工业相机暗角校正方法

权利要求书

1.一种工业相机暗角校正方法，其特征在于，所述方法包括：

步骤1，根据设定的最小栅格宽度和标定图像中像素点的像素灰度值，依次确定所述标定图像的关键行和关键列，根据所述关键行和所述关键列组成栅格；

步骤2，根据预设邻域半轴长L、所述标定图像的行数和列数，确定所述栅格中各个栅格点的邻域范围，并计算所述栅格中相关点组在所述邻域范围内的邻域均值，其中，所述相关点组包括四个相邻的栅格点；

步骤3，根据所述邻域均值，计算所述待校正图像中各像素点对应的暗角校正系数，并根据所述暗角校正系数对待校正图像进行暗角校正。

2.如权利要求1所述的工业相机暗角校正方法，其特征在于，所述步骤1中所述确定所述标定图像的关键行，具体包括：

步骤11，根据所述最小栅格宽度和所述标定图像的列数，在所述标定图像中选取第一参考点集合；

步骤12，根据所述第一参考点集合中各个像素点的行坐标，计算第一坐标矩阵，并根据各个所述像素点的像素灰度值计算第一像素矩阵；

步骤13，根据所述第一坐标矩阵和所述第一像素矩阵，计算第一参数矩阵，并选取所述第一参数矩阵中的第一元素，记作行间隔参数；

步骤14，根据所述行间隔参数和所述标定图像的行数，依次计算所述标定图像的行间隔和行区间数量，并根据所述行间隔和所述行区间数量，确定所述关键行。

3.如权利要求2所述的工业相机暗角校正方法，其特征在于，所述步骤1中所述确定所述标定图像的关键列，具体包括：

步骤15，在所述标定图像中，选取相邻两个所述关键行中的像素点作为第二参考点集合；

步骤16，根据所述第二参考点集合中各个像素点的列坐标，计算第二坐标矩阵，并根据各个所述像素点的像素灰度值计算第二像素矩阵；

步骤17，根据所述第二坐标矩阵B_i和所述第二像素矩阵，计算第二参数矩阵，并选取所述第二参数矩阵中的第一元素，记作列间隔参数；

步骤18，根据所述列间隔参数和所述标定图像的列数，依次计算所述标定图像的列间隔和列区间数量，并根据所述列间隔和所述列区间数量，确定所述关键列。

4.如权利要求2所述的工业相机暗角校正方法，其特征在于，所述步骤14中，计算所述标定图像的行间隔，之后还包括：

根据所述最小栅格宽度和最大栅格宽度，对所述行间隔进行修正，根据修正后的行间隔，计算所述行区间数量。

5.如权利要求3所述的工业相机暗角校正方法，其特征在于，所述步骤18中，计算所述标定图像的列间隔，之后还包括：

根据所述最小栅格宽度和最大栅格宽度，对所述列间隔进行修正，根据修正后的列间隔，计算所述列区间数量。

6.如权利要求1所述的工业相机暗角校正方法，其特征在于，所述步骤2中，所述邻域范围至少包括上边界、下边界、左边界、右边界，所述邻域均值avg_m,n,l的取值由所述邻域范围内、所述标定图像中各像素点的像素灰度值H(r,c)确定，所述邻域均值avg_m,n,l的计算公式为：

式中，c为所述标定图像中像素点的行坐标，r为所述标定图像中像素点的列坐标，所述H(r,c)为所述标定图像中第c行第r列的像素点的像素灰度值，d_up.(m,n,l)为所述上边界，d_down.(m,n,l)为所述下边界，d_left.(m,n,l)为所述左边界，d_{right.(m,n,l)}为所述右边界。