[发明专利]一种超级电容器模组脉冲放电的电流测试装置

权利要求书

1.一种超级电容器模组脉冲放电的电流测试装置，其特征在于，包括开关信号产生模块、MOSFET开关及驱动模块、脉冲放电回路和脉冲电流测量模块；

所述MOSFET开关及驱动模块包括驱动单元和多个开关单元；

所述开关单元包括一个MOSFET开关管和两个第一电阻，所述两个第一电阻串联并接在开关单元的输入端和地电平之间，其串联点连接所述MOSFET开关管的栅极；

将所有所述开关单元中MOSFET开关管的漏极互连并连接MOSFET开关及驱动模块的第一输出端，将所有所述开关单元中MOSFET开关管的源极互连并连接MOSFET开关及驱动模块的第二输出端；

所述驱动单元的输入端连接所述开关信号产生模块产生的开关信号，其输出端连接所有所述开关单元的输入端；

所述脉冲放电回路包括超级电容器模组、脉冲成形电感和硅整流二极 管；所述超级电容器模组的一端连接脉冲放电回路的第一控制端，其另一端连接所述脉冲成形电感的一端并连接地电平；所述硅整流二极 管的阴极连接所述脉冲成形电感的另一端和脉冲放电回路的第二控制端，其阳极接地；所述脉冲放电回路的第一控制端和第二控制端分别连接所述MOSFET开关及驱动模块的第一输出端和第二输出端；

所述驱动单元根据所述开关信号产生模块产生的开关信号控制所有所述开关单元中MOSFET开关管的导通和关断，从而控制所述脉冲放电回路产生脉冲电流；

所述脉冲电流测量模块用于将所述脉冲放电回路产生的脉冲电流转换为对应的电压信号并作为最终测试结果。

2.根据权利要求1所述的超级电容器模组脉冲放电的电流测试装置，其特征在于，所述脉冲电流测量模块包括罗氏线圈、积分器和示波器，令所述脉冲放电回路产生的脉冲电流流过所述罗氏线圈，使得所述罗氏线圈两端电压信号发生变化，所述积分器将所述罗氏线圈两端电压信号放大后由所述示波器进行显示。

3.根据权利要求1或2所述的超级电容器模组脉冲放电的电流测试装置，其特征在于，所述驱动单元包括型号为TLP250的光耦合器和第二电阻，TLP250光耦合器包括8个引脚，所述TLP250光耦合器的引脚2通过第二电阻后连接第一电源电压，其引脚3连接所述驱动单元的输入端，其引脚8连接第二电源信号，其引脚6和引脚7连接所述驱动单元的输出端，其引脚5接地；所述TLP250光耦合器的引脚2和引脚3之间连接有光发射二极管，当所述开关信号产生模块产生的开关信号控制所述TLP250光耦合器引脚2和引脚3之间的光发射二极管导通时，所述TLP250光耦合器的引脚7和引脚8之间导通，所述TLP250光耦合器的引脚5和引脚6之间断开，所述驱动单元的输出端输出高电平的信号；当所述开关信号产生模块产生的开关信号控制所述TLP250光耦合器引脚2和引脚3之间的光发射二极管不导通时，所述TLP250光耦合器的引脚5和引脚6之间导通，所述TLP250光耦合器的引脚7和引脚8之间断开，所述驱动单元的输出端输出低电平的信号。

4.根据权利要求3所述的超级电容器模组脉冲放电的电流测试装置，其特征在于，所述开关单元中的MOSFET开关管为N沟道型的MOSFET，则当所述开关信号产生模块产生的开关信号控制所述TLP250光耦合器引脚2和引脚3之间的光发射二极管导通时，所有所述开关单元中的MOSFET开关管导通，控制所述脉冲放电回路的回路闭合；当所述开关信号产生模块产生的开关信号控制所述TLP250光耦合器引脚2和引脚3之间的光发射二极管不导通时，所有所述开关单元中的MOSFET开关管断开，控制所述脉冲放电回路的回路断开。

5.根据权利要求1或4所述的超级电容器模组脉冲放电的电流测试装置，其特征在于，所述脉冲放电回路还包括限流电阻，所述硅整流二极 管的阳极通过所述限流电阻后再接地。