[发明专利]一种测量功率开关器件温度的方法、介质及计算机设备

说明书

本发明公开了一种测量功率开关器件温度的方法、介质及计算机设备，其中，所述方法包括：获取功率开关器件在标准温度下导通电阻的标定值；获取功率开关器件在实际环境温度下导通时的导通电阻；根据所述导通电阻、所述导通电阻的标定值，确定在实际环境温度下对应的导通电阻的标准化值；其中，导通电阻的标准化值为导通电阻、导通电阻的标定值之间的比值；根据所述导通电阻的标准化值，通过功率开关器件的标准映射关系，确定该功率开关器件实时的温度；本发明能测量功率开关器件的温度。

技术领域

本发明属于电子技术领域，具体涉及一种测量功率开关器件温度的方法、介质及计算机设备。

背景技术

为了保证电动车的安全运行，需要对其中的电机控制器中功率开关器件MOSFET的温度进行测量、监控和保护，准确的温度测量至关重要，可以及时和准确的进行过温保护，在保证电机控制器安全的前提下尽可能充分发挥功率开关器件的性能。传统技术下，电机控制器中的功率开关器件的温度测量的技术方案中：

一类是通过在功率开关器件附近安装热敏电阻，进行电信号的分压检测和换算，实现对温度的测量(如专利“一种电机控制器温度采样电路及温度检测电路”申请号202020427169.6)。该类方法测量的是功率开关器件附近的温度，与功率开关器件的内核温度存在差异，特别是瞬态操作导致功率开关器件温度快速变化过程中容易引入较大的误差，从而导致在用该方案对电机控制器进行温度检测和保护设计时，往往功率开关器件的设计余量偏大或者保护温度值的设计余量偏大，无法充分发挥出产品的性能。

另一类是利用半导体器件的电学量是与温度相关的函数这一特性，通过测量电信号变化反推估算出功率开关器件核心的温度。例如专利名称为“用于估算晶体管的温度的方法”(申请号201610108069.5)就采用该类方法，通过检测晶体管的集电极和发射极之间的相对于时间变化的关断电压变化，晶体管集电极和发射极之间的峰值电压，确定关断电流、开启电流和开态电压降的中间参数，然后确定晶体管在一个开关循环内的功率损耗或能量损耗，结合冷却逆变器系统的观察温度，估算晶体管在开关循环内的相关联的平均结温或管芯温度。该方法存在如下问题：针对快速关断的功率开关器件，要测量出关断电压的变化率，对系统实时响应性要求过高；测量和估算步骤过于繁复，容易引入误差，不易于在电机控制器系统中实现。

发明内容

为了克服上述技术缺陷，本发明提供一种测量功率开关器件温度的方法、介质及计算机设备，旨在提供一种更为有效的测量功率开关器件温度的方法。

为了解决上述问题，本发明按以下技术方案予以实现的：

第一方面，本发明提供的一种测量功率开关器件温度的方法，所述方法包括：

获取功率开关器件在标准温度下导通电阻的标定值；

获取功率开关器件在实际使用中的导通电阻；

根据所述导通电阻、所述电阻标定值，确定在实际使用中的导通电阻的标准化值；其中，导通电阻的标准化值为导通电阻和导通电阻的标定值之间的比值；

根据所述导通电阻的标准化值确定该功率开关器件的管芯温度。

进一步的，所述获取功率开关器件在标准温度下导通电阻的标定值的步骤，包括：

发出驱动功率开关器件导通的测试信号，在功率开关器件导通时获取功率开关器件在测试温度下的测试电阻；

根据功率开关器件的标准映射关系、测试电阻，确定功率开关器件在标准环境温度下导通电阻的标定值，其中，标准映射关系为导通电阻的标准化值与管芯温度之间的映射关系。

进一步的，所述发出驱动功率开关器件导通的测试信号，在功率开关器件导通时获取功率开关器件在测试温度下的测试电阻的步骤，包括：