[发明专利]确定参数的方法和装置有效
申请号: | 202110274832.2 | 申请日: | 2016-03-28 |
公开(公告)号: | CN113114414B | 公开(公告)日: | 2022-07-12 |
发明(设计)人: | 唐晓岩;丁超 | 申请(专利权)人: | 华为技术有限公司 |
主分类号: | H04L1/00 | 分类号: | H04L1/00;H04L25/49 |
代理公司: | 北京龙双利达知识产权代理有限公司 11329 | 代理人: | 周乔;王君 |
地址: | 518129 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 确定 参数 方法 装置 | ||
1.一种确定参数的方法,其特征在于,所述方法应用于芯片,使用IEEE802.3ap的控制码字通道实现发送和接收信号,包括:
根据频率与插损值的函数关系,确定发送电路发送所述信号的第一插损值;
根据所述第一插损值,确定第一补偿值;
根据所述第一补偿值,确定所述发送电路在发送所述信号时需要使用的预加重参数;
所述根据所述第一插损值,确定第一补偿值,包括:
根据所述第一插损值和所述发送电路的补偿能力的关系,确定所述发送电路的第一分配比β;根据所述发送电路的第一分配比β,确定所述发送电路的第一补偿值;或,
根据所述第一插损值和所述接收电路的补偿能力的关系,确定该接收电路的第二分配比(1-β)和发送电路的第一分配比β;根据所述发送电路的第一分配比β,确定所述发送电路的第一补偿值。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定所述发送电路发送所述信号的第一插损值之前,还包括:
获取两个测试信号中的每个测试信号的振幅,所述两个测试信号的频率不相等,所述两个测试信号未经预加重处理;
根据每个测试信号的振幅,确定每个测试信号的插损值;
根据每个测试信号的插损值和每个测试信号的频率,确定所述函数关系。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述每个测试信号的插损值和所述每个测试信号的频率,确定所述函数关系,包括:
根据每个测试信号的插损值、每个测试信号的频率和第一温度修正系数,确定所述函数关系。
4.根据权利要求2或3所述的方法,其特征在于,所述方法由控制电路执行,所述控制电路包括所述电路,
在所述获取两个测试信号中的每个测试信号的振幅之前,所述方法还包括:
向所述发送电路发送第一指令,所述第一指令用于指示所述发送电路向接收电路发送所述两个测试信号;
向所述接收电路发送第二指令,所述第二指令用于指示所述接收电路确定所述两个测试信号中的每个测试信号的振幅;
所述获取两个测试信号中的每个测试信号的振幅,包括:
接收所述接收电路发送的所述两个测试信号中的每个测试信号的振幅。
5.根据权利要求2或3所述的方法,其特征在于,所述方法由接收电路执行,所述接收电路包括所述电路,
所述获取两个测试信号中的每个测试信号的振幅之前,所述方法还包括:
接收所述发送电路发送的所述两个测试信号;
所述获取两个测试信号中的每个测试信号的振幅,包括:
根据接收的所述两个测试信号,确定所述两个测试信号中的每个测试信号的振幅。
6.根据权利要求2或3所述的方法,其特征在于,所述方法由所述发送电路执行,所述发送电路包括所述电路,
所述获取两个测试信号中的每个测试信号的振幅之前,还包括:
向接收电路发送所述两个测试信号;
所述获取两个测试信号中的每个测试信号的振幅,包括:
接收所述接收电路发送的所述两个测试信号中的每个测试信号的振幅。
7.一种确定参数的方法,其特征在于,所述方法由接收电路执行,所述方法应用于芯片,使用IEEE 802.3ap的控制码字通道实现发送和接收信号,包括:
根据频率与插损值的函数关系,确定发送电路发送所述信号的第一插损值;
根据所述第一插损值,确定第一补偿值;
向所述发送电路发送所述第一补偿值,所述第一补偿值用于被所述发送电路用来确定预加重参数;
所述根据所述第一插损值,确定第一补偿值,包括:
根据所述第一插损值和所述发送电路的补偿能力的关系,确定所述发送电路的第一分配比β;根据所述发送电路的第一分配比β,确定所述发送电路的第一补偿值;或,
根据所述第一插损值和所述接收电路的补偿能力的关系,确定所述接收电路的第二分配比(1-β)和发送电路的第一分配比β;根据所述发送电路的第一分配比β,确定所述发送电路的第一补偿值。
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