[发明专利]一种数字预失真方法及装置

权利要求书

1.一种数字预失真方法，其特征在于，包括：

获取功率放大器中晶体管的当前结温对所述晶体管在时间t内的非线性函数关系；具体为：采用高低温探针台和脉冲测试系统测试所述晶体管的不同结温下的转移及输出特性，并根据所述转移及输出特性建立所述晶体管的非线性与结温之间的函数关系，根据所述晶体管的热阻、所述晶体管的结温随温度变化的变化函数和所述函数关系，获取功率放大器中晶体管的当前结温对所述晶体管在时间t内的非线性函数关系；

将所述功率放大器的输出端信号耦合出第一输出信号和第二输出信号，将所述第一输出信号转换成数字信号，并根据所述数字信号建立所述功率放大器的非线性模型；

根据所述功率放大器的第二输出信号计算所述功率放大器的当前热功耗，根据所述当前热功耗计算所述晶体管的当前结温，并根据所述当前结温以及所述非线性函数关系，建立所述功率放大器的所述当前热功耗对所述功率放大器在后续时间t内的非线性函数；

根据所述非线性函数更新所述非线性模型，得到更新非线性模型，根据所述更新非线性模型对所述功率放大器进行预失真处理。

2.如权利要求1所述的数字预失真方法，其特征在于，在“获取功率放大器中晶体管的当前结温对所述晶体管在时间t内的非线性函数关系”之前，还包括：

通过热阻测试方法获取所述晶体管的热阻，通过电学法获取所述晶体管的结温随温度变化的变化函数。

3.如权利要求1所述的数字预失真方法，其特征在于，所述将所述第一输出信号转换成数字信号，并根据所述数字信号建立所述功率放大器的非线性模型，具体为：

将所述第一输出信号经过模数转换器转换成数字信号，提取所述数字信号的幅度和相位信息，得到包含所述功率放大器非线性的I信号和Q信号，根据所述I信号和所述Q信号建立所述功率放大器的非线性模型。

4.如权利要求1所述的数字预失真方法，其特征在于，所述根据所述功率放大器的第二输出信号计算所述功率放大器的当前热功耗，根据所述当前热功耗计算所述晶体管的当前结温，并根据所述当前结温以及所述非线性函数关系，建立所述功率放大器的所述当前热功耗对所述功率放大器在后续时间t内的非线性函数，具体为：

监控所述功率放大器在实际工作时的热沉温度，根据所述功率放大器的第二输出信号计算所述功率放大器的当前热功耗，并根据所述当前热功耗结合所述功率放大器的热阻和所述热沉温度，计算所述晶体管的当前结温，并根据所述当前结温以及所述非线性函数关系，建立所述功率放大器的所述当前热功耗对所述功率放大器在后续时间t内的非线性函数。

5.如权利要求4所述的数字预失真方法，其特征在于，所述根据所述功率放大器的第二输出信号计算所述功率放大器的当前热功耗，具体为：

将所述功率放大器的第二输出信号经过衰减器衰减后进行输出功率测试得到所述功率放大器的当前功率，并根据所述功率放大器的效率以及所述当前功率计算所述功率放大器的当前热功耗。

6.如权利要求1所述的数字预失真方法，其特征在于，所述晶体管包括氮化镓高电子迁移率晶体管、横向扩散金属半导体晶体管、砷化镓高电子迁移率晶体管或砷化镓异质结晶体管。

7.如权利要求2所述的数字预失真方法，其特征在于，所述热阻测试方法包括但不限于电学法、红外法、拉曼法和热反射法中的一种。

8.一种数字预失真装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取功率放大器中晶体管的当前结温对所述晶体管在时间t内的非线性函数关系；具体用于：采用高低温探针台和脉冲测试系统测试所述晶体管的不同结温下的转移及输出特性，并根据所述转移及输出特性建立所述晶体管的非线性与结温之间的函数关系，根据所述晶体管的热阻、所述晶体管的结温随温度变化的变化函数和所述函数关系，获取功率放大器中晶体管的当前结温对所述晶体管在时间t内的非线性函数关系；

建模模块，用于将所述功率放大器的输出端信号耦合出第一输出信号和第二输出信号，将所述第一输出信号转换成数字信号，并根据所述数字信号建立所述功率放大器的非线性模型；

函数建立模块，用于根据所述功率放大器的第二输出信号计算所述功率放大器的当前热功耗，根据所述当前热功耗计算所述晶体管的当前结温，并根据所述当前结温以及所述非线性函数关系，建立所述功率放大器的所述当前热功耗对所述功率放大器在后续时间t内的非线性函数；

预失真模块，用于根据所述非线性函数更新所述非线性模型，得到更新非线性模型，根据所述更新非线性模型对所述功率放大器进行预失真处理。