[发明专利]探测器参数配置方法、设备、电子装置和存储介质

权利要求书

1.一种探测器参数配置方法，其特征在于，包括：

获取探测器参数的多个第一参数值；

根据多个所述第一参数值进行扫描，并根据多个所述第一参数值及对应的扫描数据确定所述探测器参数的参数值曲线；

根据所述参数值曲线确定所述探测器参数的第二参数值，将所述第二参数值作为探测器配置参数；其中包括：根据所述参数值曲线计算曲线波动参数；根据所述曲线波动参数以及所述参数值曲线，确定所述探测器参数的第二参数值。

2.根据权利要求1所述的探测器参数配置方法，其特征在于，所述根据多个所述第一参数值及对应的扫描数据确定所述探测器参数的参数值曲线包括：

根据扫描数据获得与第一参数值对应的至少一个物理量，其中，所述物理量用于表征所述探测器的物理性能；

确定反映所述物理量与第一参数值对应关系的参数值曲线。

3.根据权利要求2所述的探测器参数配置方法，其特征在于，所述探测器在所述第二参数值处的物理量在预设范围内。

4.根据权利要求3所述的探测器参数配置方法，其特征在于，所述根据所述曲线波动参数以及所述参数值曲线，确定所述探测器参数的第二参数值包括：

在所述曲线波动参数小于或者等于波动阈值的情况下，在与所述物理量对应的参数值中选择所述第二参数值。

5.根据权利要求4所述的探测器参数配置方法，其特征在于，在与所述物理量对应的参数值中选择所述第二参数值之前，所述方法包括：

在所述曲线波动参数大于所述波动阈值的情况下，对所述第一参数值进行更新；

根据更新后的第一参数值进行扫描，并根据更新后的第一参数值及对应的扫描结果确定所述探测器参数的参数值曲线，直到所述曲线波动参数小于或者等于所述波动阈值。

6.根据权利要求2所述的探测器参数配置方法，其特征在于，所述根据所述参数值曲线确定所述探测器参数的第二参数值包括：

在所述参数值曲线中的物理量存在极值的情况下，将所述极值作为所述第二参数值。

7.根据权利要求1至6任一项所述的探测器参数配置方法，其特征在于，所述获取探测器参数的多个第一参数值包括：

获取多种探测器参数，其中，每一种探测器参数包括多个第一参数值。

8.一种探测器参数配置设备，其特征在于，包括获取模块、扫描模块和确定模块：

所述获取模块，用于获取探测器参数的多个第一参数值；

所述扫描模块，用于根据多个所述第一参数值进行扫描，并根据多个所述第一参数值及对应的扫描数据确定所述探测器参数的参数值曲线；

所述确定模块，用于根据所述参数值曲线确定所述探测器参数的第二参数值，将所述第二参数值作为探测器配置参数；其中包括：根据所述参数值曲线计算曲线波动参数；根据所述曲线波动参数以及所述参数值曲线，确定所述探测器参数的第二参数值。

9.一种电子装置，包括存储器和处理器，其特征在于，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器被设置为运行所述计算机程序以执行权利要求1至7中任一项所述的探测器参数配置方法。

10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质中存储有计算机程序，其中，所述计算机程序被设置为运行时执行权利要求1至7中任一项所述的探测器参数配置方法的步骤。