[发明专利]一种特征匹配方法及相关设备

权利要求书

1.一种特征匹配方法，其特征在于，包括：

确定第一图像对应的第一尺度不变特征变换SIFT特征集合以及第二图像对应的第二SIFT特征集合 ，所述第一图像以及所述第二图像为待进行特征匹配的图像，所述第一图像以及所述第二图像中包含相同的物体；

将所述第一SIFT特征集合中的SIFT特征与所述第二SIFT特征集合中的SIFT特征进行匹配，得到第一有效匹配集合；

确定所述第一SIFT特征集合对应的第一SIFT特征坐标集合以及所述第二SIFT特征集合对应的第二SIFT特征坐标集合；

当所述第一有效匹配集合中的匹配对数量大于目标预设值时，确定所述第一有效匹配集合对应的第一单应性矩阵，所述第一单应性矩阵指示所述第一图像中包含于所述第一有效匹配集合中的SIFT特征的坐标与所述第二图像中包含与所述第一有效匹配集合中的SIFT特征的坐标之间的映射关系；

根据所述第一单应性矩阵对所述第二图像以及所述第二SIFT特征坐标集合中的SIFT特征坐标进行反向透视变换，得到第一目标SIFT特征坐标集合；

确定所述第一目标SIFT特征坐标集合中与第一SIFT特征的第一坐标匹配的第二坐标，所述第一SIFT特征为所述第一SIFT特征集合中的任意一个SIFT特征，所述第二坐标与第二SIFT特征相对应，所述第二SIFT特征为所述第一目标SIFT特征坐标集合中的任意一个SIFT特征坐标对应的SIFT特征；

将所述第一SIFT特征以及所述第二SIFT特征进行特征匹配后加入第二有效匹配集合，所述第二有效匹配集合为置为空集后的所述第一有效匹配集合。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述第一SIFT特征集合中的SIFT特征与所述第二SIFT特征集合中的SIFT特征进行匹配，得到第一有效匹配集合包括：

判断第三SIFT特征与第四SIFT特征以及第五SIFT特征是否满足第一预设条件，所述第三SIFT特征为所述第一SIFT特征集合中的任意一个SIFT特征，所述第四SIFT特征为所述第二SIFT特征集合中所述第三SIFT特征的最近邻SIFT特征，所述第五SIFT特征为所述第二SIFT特征集合中所述第三SIFT特征的次近邻SIFT特征；

若是，则将所述第三SIFT特征与所述第四SIFT特征进行匹配得到第一目标有效匹配，所述第一目标有效匹配为所述第一有效匹配集合中的任意一个有效匹配。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述第一预设条件为所述第三SIFT特征、所述第四SIFT特征以及所述第五SIFT特征满足如下不等式：

；

其中，为所述第三SIFT特征，为所述第四SIFT特征，为所述第五SIFT特征，为求取欧式距离的函数，为小于1的正数。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

当所述第一有效匹配集合中匹配对的数量不大于所述目标预设值时，基于调整后的对所述第一SIFT特征集合中的SIFT特征与所述第二SIFT特征集合中的SIFT特征进行匹配，直至所述第一有效匹配集合中匹配对的数量大于所述目标预设值。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述第一目标SIFT特征坐标集合中与第一SIFT特征的第一坐标匹配的第二坐标包括：

根据所述第一坐标确定所述第一目标SIFT特征坐标集合的目标子集合，所述目标子集合为所述第一目标SIFT特征坐标集合中以所述第一坐标为圆心，目标半径内的所有SIFT特征；

将所述第一SIFT特征以及所述目标子集合中的所有SIFT特征进行特征匹配，得到所述第二SIFT特征。