[发明专利]环网柜运行检测装置

权利要求书

1.环网柜运行检测装置，包括信号检测输入电路、信号运算处理电路以及输出滤波驱动电路，其特征在于：所述信号检测输入电路中变压器TQ1的原级线圈一侧的一端与输入端口INPUTA连接，另一端与输入端口INPUTB连接，变压器TQ1的副级线圈一侧的一端与瞬态二极管D6的负极连接，另一端与瞬态二极管D6的正极连接，电阻R4的一端与瞬态二极管D6的负极连接，另一端分别与电容C2的一端、肖特基二极管D4的负极、瞬态二极管组U2的2号接口、瞬态二极管组U2的1号接口以及电阻R6的一端连接，电容C2的另一端接地，肖特基二极管D4的正极接地，电阻R6的另一端与放大器U1A的2号接口连接，放大器U1A的3号接口分别与电阻R7的一端以及瞬态二极管组U2的3号接口连接，电阻R7的另一端与瞬态二极管D6的正极连接；所述信号检测输入电路中放大器U1A的8号接口与高电平VCC连接，4号接口接地，1号接口分别与电阻R8的一端、电阻R3的一端以及电阻R2的一端连接，电阻R2的另一端与放大器U1A的2号接口连接，电阻R8的另一端与二极管D5的正极连接，电阻R8连接二极管D5处为信号检测输入电路的输出节点，电阻R3的另一端分别与二极管组D2的3号接口以及电容C3的一端连接，电容C3的另一端接地，二极管组D2的2号接口分别与二极管D1的正极、发光二极管D3的负极以及电容C4的一端连接，电容C4的另一端分别与二极管组D2的1号接口以及地线连接，电阻R1的一端分别与高电平VCC以及二极管D1的负极连接，另一端与发光二极管D3的正极连接。

2.根据权利要求1所述的环网柜运行检测装置，其特征在于：信号检测输入电路通过电阻R8与二极管D5连接的一端输出信号到所述信号运算处理电路中，传出的信号首先经过以放大器U1B为核心的放大模块，所述信号运算处理电路中二极管D5的负极与放大器U1B的5号接口连接，电阻R5的一端与二极管D5的正极连接，另一端与电容C1的正极连接，电容C1的负极接地，放大器U1B的6号接口分别与电容C5的正极、电阻R9的一端以及电容C6的一端连接，电容C5的负极接地，电阻R9的另一端接地，电容C6的另一端接地；所述信号运算处理电路中放大器U1B的7号接口分别与瞬态二极管D6的负极、二极管D9的正极连接，晶体管Q4的漏端分别与双向二极管D11的一端、电阻R15的一端、双级联三极管Q1的集电极以及电阻R10的一端连接，双向二极管D11的另一端与晶体管Q4的源端连接，电阻R10的另一端与高电平VCC连接，电阻R15的另一端与电容C9的一端连接，电容C9的另一端分别与可变电阻R19的一端、电容C13的一端以及双级联三极管Q1的基极连接，可变电阻R19的另一端与二极管D9的负极连接，电容C13的另一端与二极管D9的负极连接，电阻R16 的一端与二极管D9的负极连接，另一端分别与电阻R18的一端、肖特基二极管D12的负极以及晶体管Q4的栅极连接，电阻R18的另一端与晶体管Q4的漏端连接，肖特基二极管D12的正极与晶体管Q4的漏端连接，双级联三极管Q1的发射极输出经过运算处理的信号，并分别与输出滤波驱动电路的二极管D10、二极管D14的正极连接。

3.根据权利要求2所述的环网柜运行检测装置，其特征在于：所述输出滤波驱动电路中电阻R14的一端与二极管D10的正极连接，另一端分别与电容C8的一端以及PNP三极管Q3的基极连接，电容C8的另一端与电容C11的一端连接，电容C11的另一端分别与电阻R20的一端以及三极管Q6的基极连接，电容R20的另一端与二极管D14的负极连接，电阻R17的一端与高电平VCC连接，电阻R17的另一端分别与电感L2的一端以及三极管Q6的集电极连接，电感L2的另一端分别与电容C7的一端、晶体管Q5的栅极连接，电容C7的另一端与晶体管Q2的栅极连接，所述的信号运算处理电路通过二极管D10串联电阻R14和二极管D14串联电阻R20连接到输出滤波驱动电路；所述输出滤波驱动电路中电阻R12的一端与高电平VCC连接，另一端分别与PNP三极管Q3的发射极、电感L1的一端连接，电感L1的另一端与晶体管Q2的栅极连接，电阻R21的一端接地，另一端分别与PNP三极管Q3的集电极、三极管Q6的发射极晶体管Q5的源端以及电容C12的一端连接，电容C12的另一端接地，双向二极管D13的一端接地，另一端分别与晶体管Q2的源端以及晶体管Q5的漏端连接，二极管D8的负极分别与二极管D7的正极、晶体管Q5的漏以及电阻R11的一端连接，电阻R11的另一端与输出端口OUTPUT连接，二极管D7的负极与高电平VCC连接，二极管D8的正极接地，电容C10的一端接地，另一端与电阻R13的一端连接，电阻R13的另一端与输出端口OUTPUT连接。