[发明专利]一种电路测试方法、系统、电子设备及介质

说明书

本发明提供一种电路测试方法、系统、电子设备及介质，方法包括：获取电磁兼容测试失败的电路的关联信息，其中，所述关联信息至少包括以下之一：电气导通性状态、插接件和互连线状态、电路板布局布线状态、芯片状态；对所述电路的关联信息和电磁兼容进行测试，确定所述电路中异常的关联信息，完成电路测试。通过对关联信息的检测过程或者顺序进行优化，分层次确定电路中存在的异常问题，解决了传统方法中ESD问题定位不准确、整改效率低、整改对策无法量产等诸多问题，便于在电路整改时根据设备电路不同的电气导通性状态、插接件和互连线状态、电路板布局布线状态、芯片状态查找对应的定位问题和整改思路。

技术领域

本发明涉及测试技术，特别是涉及一种电路测试方法、系统、电子设备及介质。

背景技术

电子设备上市出售之前，需要对其电路进行电磁兼容认证，以获得市场准入许可，若设备没有良好的电磁兼容设计，可能导致部分功能失效，同时骚扰其他电子设备的正常工作。

目前随着电子产品功能越来越多，内部电子模块通信速率越来越高，模块种类越来越多，设备电磁兼容认证中的ESD(静电抗扰度)测试无法通过的风险越来越高。由于，ESD问题尚无归一化、标准化的定位和整改问题的方法，导致ESD问题定位不准确、整改效率低、整改对策无法量产等诸多问题，不仅造成成本投入大大提高，还往往导致整改质量差，无法满足认证需求。

发明内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种电路测试方法、系统、电子设备及介质，用于解决现有技术中电路ESD测试不便的问题。

为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种电路测试方法，包括：

获取电磁兼容测试失败的电路的关联信息，其中，所述关联信息至少包括以下之一：电气导通性状态、插接件和互连线状态、电路板布局布线状态、芯片状态；

对所述电路的关联信息和电磁兼容进行测试，确定所述电路中异常的关联信息，完成电路测试。

可选的，对所述电路的关联信息和电磁兼容进行测试的步骤包括：

对所述电路的关联信息进行测试；

若所述电路的其中一关联信息通过测试，则对所述电路的剩余的关联信息进行选择测试；

若所述电路的关联信息未通过测试，则对所述电路的未通过检测的关联信息进行整改，并进行电磁兼容测试。

可选的，若所述电路的关联信息未通过测试，则对所述电路的未通过检测的关联信息进行整改，并进行电磁兼容测试的步骤之后还包括：

若电磁兼容测试失败，则进行整改至电磁兼容测试通过。

可选的，

对所述电路的电气导通性状态、插接件和互连线状态、电路板布局布线状态、芯片状态依次进行测试。

可选的，插接件和互连线状态的测试过程包括：

判断插接件和互连线是否采用高速接插件和互连线；

若是，则进行另一关联信息测试；

若否，则进行插接件和互连线整改至电磁兼容测试通过，所述插接件和互连线整改至少包括以下之一：对互连线电源和信号走线进行防护、滤波、隔离处理。

可选的，互连线电源和信号走线进行防护处理包括防静电处理，互连线电源和信号走线进行滤波处理包括增加滤波电容，互连线电源和信号走线进行隔离处理包括增加磁珠或者电阻。

可选的，电路板布局布线状态的测试过程包括：

当复位线、数据线、时钟线参考不完整，或者，当复位线离地线的距离小于或者等于预设值时；判定电路板布局布线状态未通过测试，则进行电路板布局布线状态整改至电磁兼容测试通过。