[发明专利]满天星暗室全流程仿真与性能优化方法、装置及电子设备有效
申请号: | 202110283724.1 | 申请日: | 2021-03-17 |
公开(公告)号: | CN112685923B | 公开(公告)日: | 2021-06-08 |
发明(设计)人: | 张勇虎;伍俊;刘思慧;徐兰霞;潘小海;李中林 | 申请(专利权)人: | 湖南卫导信息科技有限公司 |
主分类号: | G06F30/20 | 分类号: | G06F30/20 |
代理公司: | 长沙智嵘专利代理事务所(普通合伙) 43211 | 代理人: | 黄海波 |
地址: | 410005 湖南省长沙市岳麓区东方红街*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 满天星 暗室 流程 仿真 性能 优化 方法 装置 电子设备 | ||
1.一种满天星暗室全流程仿真与性能优化方法,其特征在于,包括步骤:
在设计阶段基于全要素影响因子优化模型进行满天星暗室性能的仿真与优化,获得优化后的满天星暗室设计性能仿真结果,所述全要素影响因子优化模型根据满天星暗室尺寸对满天星暗室性能影响的历史数据和各设备对满天星暗室性能影响的历史数据,并结合满天星暗室尺寸对满天星暗室静区的影响权重和各设备对满天星暗室静区的影响权重共同确定;
在建设阶段基于性价比最大化模型对所述满天星暗室设计性能仿真结果进一步进行仿真与优化,获得优化后的满天星暗室建设性能仿真结果,所述性价比最大化模型由对满天星暗室静区性能影响最大的设备的反射系数和报价数据依权重共同确定;
在使用阶段基于智能匹配模型在所述满天星暗室建设性能仿真结果中自动筛选满足性能区域构建满足不同需求下的所需测试场景,并3D显示测试过程中各个组件状态及对应环境状态,所述满足性能区域指暗室内部静区性能满足要求的区域;所述智能匹配模型是指根据设定的性能指标限制条件,以3D环境卫星运行信号来向和干扰来向及初始功率为输入变量所构建得基于射线追踪法的多径信号信道模型为中间量,性能指标要求为决策量,满足性能区域为输出量的自动筛选满足性能区域模型;
所述在设计阶段基于全要素影响因子优化模型进行满天星暗室性能的仿真与优化,获得优化后的满天星暗室设计性能仿真结果,具体包括步骤:
选取满天星暗室静区的卫星信号反射电平和干扰信号反射电平作为满天星暗室静区性能设计指标决策变量;
根据技术需求构建满天星暗室初始设计方案并对其性能指标进行仿真,获得满天星暗室初始性能仿真结果;
以满天星暗室静区反射电平最低为目标,通过分别求解各个要素对满天星暗室静区的影响因子模型得到满天星暗室性能的全要素影响因子优化模型;
根据所述全要素影响因子优化模型选取满天星暗室设计性能优化方案;
采用全要素3D建模和射线追踪仿真计算方法,对选取的满天星暗室设计性能优化方案进行仿真,获得优化后的满天星暗室性能仿真结果;
所述以满天星暗室静区反射电平最低为目标,通过分别求解各个要素对满天星暗室静区的影响因子模型得到满天星暗室性能的全要素影响因子优化模型,具体包括步骤:
获取满天星暗室各设备、满天星暗室尺寸对满天星暗室性能影响的历史数据;
根据所述历史数据,以全部设备的反射系数为输入变量,以设备对静区影响因子为输出变量,根据历史输入输出数据,采用多元线性回归方法,建立满天星暗室各设备对静区的影响因子模型:
其中,为设备的反射系数,为设备距离静区中心距离,
根据所述历史数据,以满天星暗室尺寸为输入变量,以满天星暗室尺寸对静区影响因子为输出变量,根据历史输入输出数据,采用多元线性回归方法,建立满天星暗室尺寸对静区的影响因子模型:
其中,
根据各影响因子模型权重构建满天星暗室性能的全要素影响因子优化模型:
其中,为某
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