[发明专利]一种判断线残风险的方法

说明书

本申请提供一种判断线残风险的方法。所述判断线残风险的方法包括：将所述待测材料设置在基板之间以形成待测液晶盒；判断所述待测液晶盒的初始线残风险；若无初始线残风险，则对所述待测液晶盒进行配向处理并对配向后的所述待测液晶盒进行电压保持率测试和离子浓度测试，获得所述待测材料的第一电压保持率和第一离子浓度；以及对所述待测液晶盒进行老化处理，并对老化后的所述待测液晶盒进行电压保持率测试和离子浓度测试，获取所述待测材料的第二电压保持率和第二离子浓度；根据所述第一电压保持率和所述第二电压保持率的差异程度和/或所述第一离子浓度和所述第二离子浓的差异程度，判断所述待测材料的线残风险，从而避免产品发生线残问题。

技术领域

本申请涉及液晶材料技术领域，尤其涉及一种判断线残风险的方法。

背景技术

近年来，液晶显示已与日常生活密不可分，液晶手机、液晶显示器、液晶电视等产品已抢占了全部或大部分的市场份额。随着液晶产品拥有量的增大和使用的深入，人们对液晶产品的显示品质也提出了更高的要求：广视角，高对比度，快速画面切换(快速响应时间)，低耗电，及画面稳定。

而画面稳定需要改善的问题之一就是“残像”。所谓“残像”即影像残留，通常可分为“面残像”和“线残像”。二者产生的本质原因一致，即当液晶屏幕长时间保持一幅静止画面时，液晶分子由于受到长时间的电荷驱动而被极化，从而造成液晶分子不能在信号电压控制下正常偏转。也就是说即便改变显示画面的内容，屏幕上仍然可以看到静止图像的痕迹。

其中，有一些线残像的发生与聚酰亚胺(PI)和液晶(LC)材料有关，然而，现有技术的液晶显示面板在聚酰亚胺和液晶等材料开发过程中，其电压保持率(VHR：voltageholding ratio)和离子浓度(Ion concentration)等测试方法无法甄别材料的线残风险，导致在产品上发生线残的技术问题。

发明内容

本申请提供了一种判断线残风险的方法，可在液晶盒材料开发阶段，有效判断材料是否存在线残风险，从而避免产品发生线残的技术问题。

为实现上述功能，本申请提供的技术方案如下：

一种判断线残风险的方法，所述方法包括：

将所述待测材料设置在基板之间以形成待测液晶盒；

判断所述待测液晶盒的初始线残风险；

若无初始线残风险，则对所述待测液晶盒进行配向处理，并对配向后的所述待测液晶盒进行电压保持率测试和离子浓度测试，获得所述待测材料的第一电压保持率和第一离子浓度；以及

对所述待测液晶盒进行老化处理，并对老化后的所述待测液晶盒进行电压保持率测试和离子浓度测试，获取所述待测材料的第二电压保持率和第二离子浓度；

根据所述第一电压保持率和所述第二电压保持率的差异程度和/或所述第一离子浓度和所述第二离子浓的差异程度，判断所述待测材料的线残风险。

在本申请的判断线残风险的方法中，所述待测材料为液晶材料，所述液晶材料夹设在所述待测液晶盒的基板之间。

在本申请的判断线残风险的方法中，所述待测材料为配向材料，所述配向材料设置在所述待测液晶盒的基板与液晶层之间。

在本申请的判断线残风险的方法中，所述判断所述待测材料的线残风险的步骤包括：

获取所述第一电压保持率和所述第二电压保持率的差值；

获取所述第二离子浓度和所述第一离子浓度的差值；

若所述第一电压保持率和所述第二电压保持率的差值大于5％；和/或

若所述第二离子浓度和所述第一离子浓度的差值大于5％，且所述第二离子浓度大于500pC，则所述待测材料存在线残风险。