[发明专利]一种用于标准单元数据的分析方法有效
申请号: | 202110285282.4 | 申请日: | 2021-03-17 |
公开(公告)号: | CN113065294B | 公开(公告)日: | 2022-06-17 |
发明(设计)人: | 徐峰;于威;甘振华;刘圆;孙凌 | 申请(专利权)人: | 上海天数智芯半导体有限公司 |
主分类号: | G06F30/30 | 分类号: | G06F30/30 |
代理公司: | 南京钟山专利代理有限公司 32252 | 代理人: | 刘林峰 |
地址: | 201100 上海市闵行*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 标准 单元 数据 分析 方法 | ||
1.一种用于标准单元数据的分析方法,其特征在于,具体过程如下:将标准单元库中的每个标准单元的信息进行解析,均获得单行全信息格式;根据单行全信息格式和输入参数通过插值法得到标准单元数据,并将所述标准单元数据进行文本与可视化展示;所述标准单元数据包括:标准单元的延时Delay和标准单元的功耗Power;所述标准单元数据通过以下方法得到:
其中,A为第一插值参数,B为第二插值参数,C为第三插值参数,D为第四插值参数,X、Y为均为输入参数;
所述第一插值参数A通过以下方法获得:
其中,X1、X2分别为二维查找表上第一横向索引变量、第二横向索引变量,Y1、Y2分别为二维查找表上第一纵向索引变量、第二纵向索引变量;a11为(X1,Y1)对应的电容值、延时值或功耗值,a12为(X1,Y2)对应的电容值、延时值或功耗值,a21为(X2,Y1)对应的电容值、延时值或功耗值、a22为(X2,Y2)对应的电容值、延时值或功耗值;
所述第二插值参数B通过以下方法获得:
其中,X1、X2分别为二维查找表上第一横向索引变量、第二横向索引变量,Y1、Y2分别为二维查找表上第一纵向索引变量、第二纵向索引变量;a11为(X1,Y1)对应的电容值、延时值或功耗值,a12为(X1,Y2)对应的电容值、延时值或功耗值,a21为(X2,Y1)对应的电容值、延时值或功耗值、a22为(X2,Y2)对应的电容值、延时值或功耗值;
所述第三插值参数C通过以下方法获得:
其中,X1、X2分别为二维查找表上第一横向索引变量、第二横向索引变量,Y1、Y2分别为二维查找表上第一纵向索引变量、第二纵向索引变量;a11为(X1,Y1)对应的电容值、延时值或功耗值,a12为(X1,Y2)对应的电容值、延时值或功耗值,a21为(X2,Y1)对应的电容值、延时值或功耗值、a22为(X2,Y2)对应的电容值、延时值或功耗值;
所述第四插值参数D通过以下方法获得:
其中,X1、X2分别为二维查找表上第一横向索引变量、第二横向索引变量,Y1、Y2分别为二维查找表上第一纵向索引变量、第二纵向索引变量;a11为(X1,Y1)对应的电容值、延时值或功耗值,a12为(X1,Y2)对应的电容值、延时值或功耗值,a21为(X2,Y1)对应的电容值、延时值或功耗值、a22为(X2,Y2)对应的电容值、延时值或功耗值。
2.根据权利要求1所述用于标准单元数据的分析方法,其特征在于,每个单行全信息格式均包括:引脚信息、电容值、数据类型、关联引脚、时序类型、引脚信号状态、二维查找表索引以及二维查找表。
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