[发明专利]一种高铝玻璃原材料硝酸钾的X荧光测定方法在审

专利信息
申请号: 202110289269.6 申请日: 2021-03-18
公开(公告)号: CN113092510A 公开(公告)日: 2021-07-09
发明(设计)人: 彭寿;张冲;李兆廷;易元;任红灿;陈英;王国全;陈晓梅;李晓莉 申请(专利权)人: 成都中光电科技有限公司;东旭集团有限公司
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223;G01N23/2202
代理公司: 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 代理人: 吕玲
地址: 611731 四川省成都*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 玻璃 原材料 硝酸钾 荧光 测定 方法
【权利要求书】:

1.一种高铝玻璃原材料硝酸钾的X荧光测定方法,其特征在于,具体包括如下步骤:

步骤1:采用市售的硝酸钾纯度标准样品作为标准样品,或者市售的硝酸钾纯度标准样品加入市售的氯化钠标准物质配制标准样品;

步骤2:将四硼酸锂与偏硼酸混合均匀后作为混合助溶剂;

步骤3:将上述步骤1中的标准样品和步骤2中的混合助溶剂置于培养皿中,搅拌均匀,形成混合样品;

步骤4:将步骤3中培养皿的混合样品转移至铂黄坩埚中,并在其表面滴加1-3滴脱模剂;

步骤5:将步骤4中的铂黄坩埚置于高温熔样炉内进行熔样;经过高温熔样炉完成熔样后,取出铂黄坩埚自然冷却脱模得到标准样品玻璃片;

步骤6:将步骤5熔制好的标准样品玻璃片于X荧光光谱仪上登记成分含量及对应的强度;

步骤7:重复步骤1-6,获得若干组标准样品玻璃片,建立含量-强度标准工作曲线;

步骤8:将待测样品重复步骤2-5,获得待测样品玻璃片,将待测样品玻璃片于X荧光光谱仪上检测强度,根据步骤7建立的标准工作曲线对含量进行检测。

2.根据权利要求书1所述的一种高铝玻璃原材料硝酸钾的X荧光测定方法,其特征在于,所述步骤2中助溶剂中四硼酸锂与偏硼酸的比例为1:1-2:1。

3.根据权利要求书1所述的一种高铝玻璃原材料硝酸钾的X荧光测定方法,其特征在于,所述步骤3中,标准样品与混合助溶剂的比例为1:15-1:20。

4.根据权利要求书1所述的一种高铝玻璃原材料硝酸钾的X荧光测定方法,其特征在于,所述步骤4中高温熔样炉的参数为:静置预熔时间100-150S,静置停顿时间5-10S;摇摆熔融时间15-20min,熔融温度980℃-1100℃。

5.根据权利要求书1所述的一种高铝玻璃原材料硝酸钾的X荧光测定方法,其特征在于,所述步骤5中标准样品玻璃片的厚度为1-3mm,样品总质量为8-10g。

6.根据权利要求书1所述的一种高铝玻璃原材料硝酸钾的X荧光测定方法,其特征在于,所述步骤5中标准样品玻璃片的厚度为2mm,样品总质量为8.4-9.6g。

7.根据权利要求书1所述的一种高铝玻璃原材料硝酸钾的X荧光测定方法,其特征在于,所述脱模剂为NH4I水溶液或者NH4Br水溶液中的任一种。

8.根据权利要求书7所述的一种高铝玻璃原材料硝酸钾的X荧光测定方法,其特征在于,所述NH4I水溶液或者NH4Br水溶液的溶液为溶质质量分数为30%。

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