[发明专利]密封装置检测方法、装置、设备及存储介质

说明书

本申请实施例提供了一种密封装置率检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质，该方法通过为密封装置输入不同试验压力的气体；并在第一预设时间段后采集对应的多组数据计算得到密封装置在试验压力下的泄漏率；根据多个试验压力下的泄漏率、流动方程以及密封装置在设计压力下的最大允许泄漏率计算得到密封装置在试验压力下的最大允许泄漏率；以此来检测密封装置是否合格。本申请通过低于设计压力的气体对密封装置进行试验，使得在对密封装置是否合格的检测过程均在压力较低的环境下进行，降低了人身伤害以及设备损坏等不安全事故发生的概率；同时缩短了密封装置的检测时间，降低了检测成本，增加了密封装置带来的经济收益。

技术领域

本申请涉及计算机技术领域，特别是涉及一种密封装置检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质。

背景技术

大多数密封装置上都有焊接缝、阀门、电缆孔等使密封装置中的气体泄漏到大气中的结构，为了检测一个密封装置是否合格，就需要确定密封装置的泄漏率。为了得到密封装置更为准确的泄漏率，通常会为密封装置输入设计压力的气体对密封装置是否合格进行检测(设计压力指设定在密封装置的最高压力，其值不低于密封装置的工作压力)，然后通过设置在密封装置内的各传感器获取例如可以是温度、压力、湿度等数据，并根据该数据计算得到该密封装置在设计压力下的泄漏率，然后将计算值与设计压力下的最大允许泄漏率进行比对，根据比对结果检测该密封装置是否合格。但通过设计压力对密封装置进行检测，其检测时间较长，且安全性差，容易造成人身伤害以及设备损坏。

发明内容

本申请实施例提供了一种密封装置检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质，可以通过远低于设计压力的气体检测密封装置的密封性能，进一步判断密封装置是否合格，检测时间短，安全性好。

本申请实施例的第一方面提供了一种密封装置检测方法，该方法通过密封装置检测设备执行，包括：

为密封装置输入不同试验压力的气体；试验压力大于标准大气压且小于设计压力；

在将试验压力的气体输入至密封装置预设时间段后采集对应的多组数据，数据为设置在密封装置内的传感器采集的数据；

根据多组数据计算得到密封装置在试验压力下的泄漏率；

根据多个试验压力下的泄漏率、流动方程以及密封装置在设计压力下的最大允许泄漏率计算得到密封装置在试验压力下的最大允许泄漏率；

根据试验压力下的最大允许泄漏率检测密封装置是否合格。

本申请实施例的第二方面提供了一种密封装置检测装置，该装置包括：

输入模块，用于为密封装置输入不同试验压力的气体；试验压力大于标准大气压且小于设计压力；

采集模块，用于在将试验压力的气体输入至密封装置预设时间段后采集对应的多组数据，数据为设置在密封装置内的传感器采集的数据；

处理模块，用于根据多组数据计算得到密封装置在试验压力下的泄漏率；

处理模块，还用于根据多个试验压力下的泄漏率、流动方程以及密封装置在设计压力下的最大允许泄漏率计算得到密封装置在试验压力下的最大允许泄漏率；

处理模块，还用于根据试验压力下的最大允许泄漏率检测密封装置是否合格。

本申请实施例的第三方面提供了一种密封装置检测设备，包括存储器和处理器，存储器存储有计算机程序，处理器执行计算机程序时实现上述任一项方法的步骤。

本申请实施例的第四方面提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述任一项方法的步骤。