[发明专利]一种用于二次元测试仪的MUX组件测量装置及测量方法

权利要求书

1.一种用于二次元测试仪的MUX组件测量装置，包括高精密平台、摄像系统、显示器和测量主机，所述高精密平台、摄像系统、显示器分别与测量主机连接；所述高精密平台用于固定待测MUX组件，所述摄像系统用于获取MUX组件的投影图像，并将所述投影图像传输给测量主机，所述测量主机根据所述投影图像分析得到MUX组件的外形尺寸，并将所述外形尺寸信息展示在显示器上；其特征在于，所述高精密平台包括第一滑台、第二滑台和第三滑台，所述第一滑台顶面沿水平方向开设有滑槽，所述滑槽内滑动嵌设有滑块；所述第二滑台沿水平方向滑动安装在第一滑台上，且所述第二滑台在第一滑台上的滑动方向与所述滑槽的开槽方向垂直；所述第三滑台固定安装在第二滑台上，所述第三滑台上沿竖直方向滑动安装有滑臂，所述滑臂的外侧壁上固定安装有第一夹具，所述滑块上设有与所述第一夹具相对应的第二夹具，所述第一夹具、第二夹具分别用于夹持MUX组件的两端；所述MUX组件包括光纤、复用器和光接口，所述复用器和光接口分别安装在光纤的两端；所述高精密平台上还设有定位装置，用于辅助调节光纤的水平度。

2.根据权利要求1所述的一种用于二次元测试仪的MUX组件测量装置，其特征在于，所述第二滑台上设有第一调节旋柄，用于调节所述第二滑台在第一滑台上的位置；所述第三滑台上设有第二调节旋柄，用于调节所述滑臂在第三滑台上的位置。

3.根据权利要求2所述的一种用于二次元测试仪的MUX组件测量装置，其特征在于，所述第二滑台的侧壁设有第一锁紧螺栓；所述第三滑台的侧壁设有第二锁紧螺栓。

4.根据权利要求3所述的一种用于二次元测试仪的MUX组件测量装置，其特征在于，所述第一夹具包括固定座，所述固定座固定安装在滑臂上；所述固定座顶面设有固定挡块、活动挡块、滑轨和第一紧固螺栓，所述活动挡块滑动嵌设在所述滑轨上；所述活动挡块一端与所述固定挡块相对，另一端的端面设有T形槽；所述固定座顶面远离固定挡块的一端设有安装臂，所述第一紧固螺栓的末端贯穿安装臂嵌设在所述T形槽内。

5.根据权利要求4所述的一种用于二次元测试仪的MUX组件测量装置，其特征在于，所述定位装置包括激光发射器和激光接收器，所述激光发射器安装在固定座的侧壁上，所述激光接收器安装在滑块的侧壁上；所述激光发射器、激光接收器分别与测量主机连接。

6.根据权利要求5所述的一种用于二次元测试仪的MUX组件测量装置，其特征在于，所述激光发射器为点光源激光器，所述激光接收器为激光接收阵列传感器。

7.根据权利要求6所述的一种用于二次元测试仪的MUX组件测量装置，其特征在于，所述第二夹具包括第一挡板和第二挡板，所述第一挡板与第二挡板平行设置在滑块顶部，所述第一挡板的前端活动嵌设有第二紧固螺栓，所述第二挡板的前端设有与所述第二紧固螺栓末端相对的夹臂，所述夹臂与第二紧固螺栓相对的端面设有V形槽。

8.根据权利要求7所述的一种用于二次元测试仪的MUX组件测量装置，其特征在于，所述滑块底部设有磁体。

9.一种用于二次元测试仪的MUX组件测量方法，基于权利要求8所述的测量装置，其特征在于，包括以下步骤：

S1，将MUX组件的两端分别夹持在第一夹具和第二夹具上，拧紧第一紧固螺栓和第二紧固螺栓，滑动滑块将光纤拉直；

S2，分别开启点光源激光器和激光接收阵列传感器；

S3，通过显示器观察激光接收阵列传感器上光点的位置，根据光点在激光接收阵列上的位置调整第一夹具的位置；

S4，若光点位于激光接收阵列中心点的左侧或右侧，则通过第一调节旋柄调节夹具的水平位置，使光点位于激光接收阵列的纵向中心轴上；

S5，若光点位于激光接收阵列中心点的上侧或下侧，则通过第二调节旋柄调节夹具的高度，使光点位于激光接收阵列的横向中心轴上；

S6，当光点与激光接收阵列的中心点重合后，再次通过滑块将光纤拉直；

S7，通过摄像系统获取光纤的投影图像，并将所述投影图像传输给测量主机；

S8，所述测量主机根据所述投影图像分析得到MUX组件的外形尺寸，并将所述外形尺寸信息展示在显示器上。