[发明专利]显示面板、器件性能测试方法和显示设备

说明书

本申请提供的显示面板、器件性能测试方法和显示设备，涉及测试技术领域。其中，显示区域包括显示区驱动晶体管和显示区发光器件，测试区域包括与显示区驱动晶体管对应设置的测试区驱动晶体管和与显示区发光器件对应设置的测试区发光器件。测试区驱动晶体管包括第一高电位端、第一低电位端和第一栅极端。测试区发光器件包括第一阳极和第一阴极，第一阳极与第一低电位端电连接。第一高电位端、第一低电位端、第一栅极端、第一阳极和第一阴极中的至少一个与信号探测设备电连接，信号探测设备用于采集电连接位置的测试信号。基于上述设置，可以改善现有技术中难以对显示区驱动晶体管和显示区发光器件进行有效测试的问题。

技术领域

本申请涉及测试技术领域，具体而言，涉及一种显示面板、器件性能测试方法和显示设备。

背景技术

对于包括有机电致发光器件(Organic Light-Emitting Diode，OLED)和晶体管器件的显示面板，在有机电致发光器件基于晶体管器件的驱动进行发光显示的过程中，有机电致发光器件和晶体管器件的器件性能会发生变化，从而影响显示器件的寿命。因而，需要对有机电致发光器件和晶体管器件的器件性能进行测试，但是，基于现有的测试技术，难以有效地对有机电致发光器件和晶体管器件的器件性能进行测试。

发明内容

有鉴于此，本申请的目的在于提供一种显示面板、器件性能测试方法和显示设备，以改善现有技术中难以对显示区驱动晶体管和显示区发光器件进行有效测试的问题。

为实现上述目的，本申请实施例采用如下技术方案：

一种显示面板，所述显示面板包括显示区域和测试区域，所述显示区域包括显示区驱动晶体管和显示区发光器件，所述显示区发光器件基于所述显示区驱动晶体管的驱动进行发光显示，所述测试区域包括：

与所述显示区驱动晶体管对应设置的测试区驱动晶体管，所述测试区驱动晶体管包括第一高电位端、第一低电位端和第一栅极端，所述第一高电位端与高电平信号源电连接，所述第一栅极端与栅极驱动信号源电连接；

与所述显示区发光器件对应设置的测试区发光器件，所述测试区发光器件包括第一阳极和第一阴极，所述第一阳极与所述第一低电位端电连接，所述第一阴极与低电平信号源电连接；

其中，在对所述测试区驱动晶体管和所述测试区发光器件进行测试时，所述第一高电位端、所述第一低电位端、所述第一栅极端、所述第一阳极和所述第一阴极中的至少一个与信号探测设备电连接，所述信号探测设备用于采集电连接位置的测试信号，以对所述测试区驱动晶体管和所述测试区发光器件进行测试。

在本申请实施例较佳的选择中，在上述显示面板中，所述测试区域还包括：

测试焊盘，所述测试焊盘与所述第一高电位端、所述第一低电位端、所述第一栅极端、所述第一阳极和所述第一阴极中的至少一个电连接；

其中，在对所述测试区驱动晶体管和所述测试区发光器件进行测试时，所述信号探测设备与所述测试焊盘电连接。

在本申请实施例较佳的选择中，在上述显示面板中，所述显示区发光器件包括多个第一发光器件，所述多个第一发光器件中存在至少两种颜色不同的发光器件，所述显示区驱动晶体管包括多个第一驱动晶体管，每一个所述第一驱动晶体管用于对所述多个第一发光器件中的其中一个进行驱动；

其中，所述测试区发光器件包括多个第二发光器件，所述多个第二发光器件中存在与所述第一发光器件的至少两种颜色对应的发光器件，所述测试区驱动晶体管包括多个第二驱动晶体管，每一个所述第二驱动晶体管用于对所述多个第二发光器件中的其中一个进行驱动。

在本申请实施例较佳的选择中，在上述显示面板中，所述显示面板还包括阳极初始化信号源，所述测试区域还包括：