[发明专利]一种基于余数匹配的光学欠采样频率恢复方法有效
申请号: | 202110294565.5 | 申请日: | 2021-03-19 |
公开(公告)号: | CN113138313B | 公开(公告)日: | 2022-04-08 |
发明(设计)人: | 谢树果;杨燕;王天恒;田雨墨;王铁凝 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
主分类号: | G01R29/12 | 分类号: | G01R29/12;G01R23/02 |
代理公司: | 北京航智知识产权代理事务所(普通合伙) 11668 | 代理人: | 黄川;史继颖 |
地址: | 100191*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 余数 匹配 光学 采样 频率 恢复 方法 | ||
1.一种基于余数匹配的光学欠采样频率恢复方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1:待测系统的两个重频分别为f1和f2,采样得到待测频率fr在区间和内的最小下变频分量为δf1和δf2,进而得到四种可能的下变频组合(δf1,δf2),(δf1,f2-δf2),(f1-δf1,δf2),(f1-δf1,f2-δf2);
S2:对步骤S1中的下变频组合进行解集扩充,得到四组集合:
其中,n1,n2,m1,m2,p1,p2,q1,q2均为非负整数,且满足
n1f1+δf1≤Fmax
n2f2+δf2≤Fmax
m1f1+δf1≤Fmax
m2f2+(f2-δf2)≤Fmax
p1f1+(f1-δf1)≤Fmax
p2f2+δf2≤Fmax
q1f1+(f1-δf1)≤Fmax
q2f2+(f2-δf2)≤Fmax
其中,Fmax为待测频率fr的最大可能值;
S3:对步骤S2扩充后的四组集合分别求交集;当时,最少有一组,最多有两组集合具有交集,其中,LCM(f1,f2)表示f1,f2的最小公倍数;
当只有一组具有交集时,此交集中有且只有一个元素即待测频率fr;
当有两组集合存在交集时,两组均有且只有一个元素,一个是待测频率fr,另一个是虚警频率ffalse。
2.根据权利要求1所述的一种基于余数匹配的光学欠采样频率恢复方法,其特征在于,当产生频偏的时候,根据频率计算方法,会出现无法得到准确交集的情况,为了能够得到交集,对集合中的元素进行模糊处理,得到模糊交集;
待测电场频率为fr,且fr在测量范围内不会激发虚警频率,满足:
fr=a1f1+Δf1=a2f2+Δf2 (1)
其中,a1,a2均为非负整数,设仪器测量的误差范围为±η,两个半重频区间内得到的下变频测量值与真实值之间的误差分别为η1和η2,且|η1|,|η2|≤|η|,则测量值与待测频率之间的关系为:
待测频率为:
fr=fr1∩fr2 (3)
其中,fr1和fr2为根据两个带有误差的下变频分量扩展出的解集,a1 a2为非负整数,f1和f2为两个光源的重频,Δf1和Δf2为第一半重频区间内的下变频分量;
为了保证存在交集,将解集模糊化,定义R为模糊半径,表示当两个值相差2R时,则这两个值在广义上相等;由于对交集进行了模糊处理,式(2)能够得到唯一解;
定义虚警率为会激发虚警频率的频点与总频点数之比,不考虑测量误差时的虚警率为理想虚警率,由于模糊交集的存在,系统的虚警率会上升;
设gr是一个与fr相差为δ的频率点,即满足gr=fr+δ;所以,
gr=a1f1+(Δf1+δ)=a2f2+(Δf2+δ) (4)
由于模糊半径的存在,当存在非负整数b1和b2,使得
|[b1f1+(Δf1+δ)]-[b2f2-(Δf2+δ)]|≤2R (5)
成立时,虚警频率被激发;所以,某一待测频率与距离它最近的可激发虚警频率的频率点之间的频率差δ满足式(5)时,会激发虚警频率;通过计算得知,当存在测量误差时,系统的虚警率为:
PN=4R×P0 (6)
其中,P0为系统理想虚警率;
即存在测量误差的情况下,系统虚警率与模糊半径成正比;所以,减少模糊半径能够降低系统虚警率;但是,为了保证交集存在,需满足R≥2η。
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