[发明专利]一种用于显示面板缺陷检测的周期提取方法、装置及系统

权利要求书

1.一种用于显示面板缺陷检测的周期提取方法，其特征在于，包括：

根据显示面板的传感图像确定周期特征点；

根据所述周期特征点提取周期。

2.根据权利要求1所述的用于显示面板缺陷检测的周期提取方法，其特征在于，所述根据显示面板的传感图像确定周期特征点包括：

采用灰度变换放大所述传感图像中周期特征的对比度；

通过灰度阈值分割周期特征区域；

采用开运算分离所述周期特征区域中相连区域形成分离区域，从所述分离区域确定所述周期特征点。

3.根据权利要求2所述的用于显示面板缺陷检测的周期提取方法，其特征在于，所述从所述分离区域确定所述周期特征点包括：

根据预设筛选条件从所述分离区域筛选以确定所述周期特征点。

4.根据权利要求1-3任一所述的用于显示面板缺陷检测的周期提取方法，其特征在于，所述根据所述周期特征点提取周期包括：

从所述传感图像提取所述周期特征点的中心坐标，根据所述中心坐标分行排列所述周期特征点；

从所述周期特征点中剔除异常特征点并补充缺失特征点；

根据剔除所述异常特征点以及补充所述缺失特征点后的周期特征点中提取周期。

5.根据权利要求4所述的用于显示面板缺陷检测的周期提取方法，其特征在于，所述根据所述中心坐标分行排列所述周期特征点包括：

采用排序算法对所述中心坐标进行排序，以分行排列所述周期特征点。

6.根据权利要求4所述的用于显示面板缺陷检测的周期提取方法，其特征在于，所述从所述周期特征点中剔除异常特征点并补充缺失特征点包括：

统计所述周期特征点的间距分布，根据所述间距分布剔除所述异常特征点并补充所述缺失特征点。

7.根据权利要求4所述的用于显示面板缺陷检测的周期提取方法，其特征在于，所述根据所述周期特征点提取周期还包括：

确定所述传感图像中所述周期的提取范围，在所述提取范围内根据所述周期特征点提取所述周期。

8.一种用于显示面板缺陷检测的周期提取装置，其特征在于，包括：

确定模块，用于根据显示面板的传感图像确定周期特征点；

提取模块，用于根据所述周期特征点提取周期。

9.一种用于显示面板缺陷检测的周期提取系统，其特征在于，包括存储有计算机程序的计算机可读存储介质和处理器，所述计算机程序被所述处理器读取并运行时，实现如权利要求1至7任一项所述的用于显示面板缺陷检测的周期提取方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器读取并运行时，实现如权利要求1至7任一项所述的用于显示面板缺陷检测的周期提取方法。