[发明专利]阻抗测试方法及其测试装置

权利要求书

1.一种阻抗测试方法，其特征在于，包括：

注入第一频率的第一激励信号和第二频率的第二激励信号至待测设备；

获取所述待测设备响应于所述第一激励信号产生的第一阻抗信息，以及响应于所述第二激励信号产生的第二阻抗信息；

根据所述第一阻抗信息和所述第二阻抗信息获取差值阻抗信息，所述差值阻抗信息包括电阻值和相位值，根据所述电阻值、相位值和预设调整策略更新所述第一频率和所述第二频率；

根据调整后的所述第一频率和所述第二频率，重复执行注入所述第一激励信号和所述第二激励信号的步骤，以获取更新的所述第一阻抗信息和所述第二阻抗信息，直至所述第二频率等于预设频率阈值；

根据获取的多个所述第一阻抗信息和多个所述第二阻抗信息生成并显示阻抗曲线。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述注入第一频率的第一激励信号和第二频率的第二激励信号至待测设备前，还包括：

注入第一电流值的谐波电流信号至所述待测设备；

当所述第一阻抗信息或所述第二阻抗信息的幅值大于或等于幅值阈值时，根据预设电流调节系数调节所述第一电流值，并根据调节后的所述第一电流值重新注入谐波电流信号至所述待测设备。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述电阻值、相位值和预设调整策略更新所述第一频率和所述第二频率，包括：

当所述电阻值大于或等于电阻阈值时，根据第一调整策略调整所述第一频率和所述第二频率。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据第一调整策略调整所述第一频率和所述第二频率，包括：

更新频率步长为εω_e，其中，ω_e为更新前的所述频率步长，所述频率步长为所述第一频率与所述第二频率的差值，|ΔZ|为所述电阻值，k_p、k_r为预设定值；

根据更新后的所述频率步长和公式调整所述第一频率和第二频率，其中，ω₀为所述第一频率，ω₁为所述第二频率。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述电阻值、相位值和预设调整策略更新所述第一频率和所述第二频率，还包括：

当所述电阻值小于电阻阈值，且所述相位值小于相位阈值时，根据第二调整策略调整所述第一频率和所述第二频率。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据第二调整策略调整所述第一频率和所述第二频率，包括：

保持所述频率步长不变，所述频率步长为所述第一频率与所述第二频率的差值；

根据所述频率步长和公式调整所述第一频率和第二频率，其中，ω₀为所述第一频率，ω₁为所述第二频率，ω_e为所述频率步长。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述电阻值、相位值和预设调整策略更新所述第一频率和所述第二频率，包括：

当所述电阻值小于电阻阈值，且所述相位值大于或等于相位阈值时，以及时，根据第三调整策略调整所述第一频率和所述第二频率，其中，Z_e为电阻阈值，为相位阈值，为所述相位值，|ΔZ|为所述电阻值，

所述第三调整策略包括：

更新频率步长为εω_e，其中，所述频率步长为所述第一频率与所述第二频率的差值，ω_e为更新前的所述频率步长，|ΔZ|为所述电阻值，k_p、k_r为预设定值；

根据更新后的所述频率步长和公式调整所述第一频率和第二频率，其中，ω₀为所述第一频率，ω₁为所述第二频率。