[发明专利]一种基于动态平衡的颗粒平均粒径的快速测定方法在审

专利信息
申请号: 202110302016.8 申请日: 2021-03-22
公开(公告)号: CN113049456A 公开(公告)日: 2021-06-29
发明(设计)人: 张寒;康凤杰 申请(专利权)人: 武汉科技大学;舜典仪器(上海)有限公司
主分类号: G01N15/02 分类号: G01N15/02;G01N7/04
代理公司: 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 代理人: 张火春
地址: 430081 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 动态平衡 颗粒 平均 粒径 快速 测定 方法
【说明书】:

发明涉及一种基于动态平衡的颗粒平均粒径的快速测定方法。其技术方案是:取质量为m0的干燥洁净的U型样品管,将待测颗粒装入所述U型样品管底部,再于75~150℃热处理5~8分钟,自然冷却,测得装有待测颗粒的U型样品管质量为m1;将热处理后的装有待测颗粒的U型样品管接入热导池检测器,通入混合气体,然后浸入液氮中,静置5~6分钟,取出后在35℃测得待测颗粒吸附的气体体积V。待测颗粒的平均粒径其中:C表示等效长度,C=1.5068μm,ρ表示待测颗粒的真密度,g/cm3。本发明具有检测范围广、精度高、成本低、安全可靠且无污染的特点。

技术领域

本发明属于颗粒平均粒径的快速测定技术领域。具体涉及一种基于动态平衡的颗粒平均粒径的快速测定方法。

背景技术

颗粒材料的粒径是衡量其活性、流动性及堆积密度等特性的重要参数,不仅影响其制备与应用,且关系到颗粒的输送与贮存。如何快速、精确的测量颗粒材料的粒径已成为材料领域共同关注的重要问题。

目前,对颗粒材料粒径的测定方法以静态手段为主,如成像法、观察法和筛分(统计)法等(杨冬霞,王天旸,苏鲁阳,等.粉体生产流程中粒径检测的方法研究,《林区教学》,2015,(7):pp77-78)。

观察法是主要以光学显微镜、电子显微镜(扫描或透射电子显微镜)等设备通过成像后采集照片,利用统计和等效模型计算的方法获取颗粒的粒径(王智,李琪,黄鹭,等.扫描电镜纳米颗粒粒径自动检测算法,《计量学报》,2020,41(10):pp1199-1204)。该方法虽精确度高,尤其结合颗粒的几何形貌统计分析而更加直观,但对设备要求较高,对原料的预处理(如喷金导电、抽真空)过程较复杂且用时较长。

筛分法是主要以固定尺寸的筛网/筛孔对固体颗粒进行分级,然后统计粒级分布和颗粒尺寸(刘辉,史学峰,李丽珍.筛分法和显微镜法对矿化垃圾粒径分布的比较,《环境工程学报》,2014,8(9):pp4007-4011)。该方法虽操作简单便捷,无需设备或仪器要求,但由于颗粒间静电吸附、聚合成团等因素的影响,筛分法对小粒径颗粒区分能力较差,主要适用于粗颗粒、大尺寸的粒径分布测量。

激光法是主要以单色光源照射样品池中的颗粒,产生光的衍射、散射,经过信号搜集与转化处理后得到颗粒粒级的分布信息(刘和远,和瑞莉,吉俊峰.激光法与筛分法泥沙颗粒分析结果的相关性,《人民黄河》,2005,27(8):pp24-25)。其检测结果虽准确且用时较短,但主要弊端在于依赖于高精度的激光粒度分析仪而投资大,且检测过程中需要消耗大量分散介质(湿法测试所需分散介质如去离子水、无水乙醇等)和表面活性剂,进而导致检测成本较高,且容易造成二次污染。

发明内容

本发明旨在克服现有技术缺陷,目的在于提供一种检测范围广、精度高、成本低、安全可靠且无污染的基于动态平衡的颗粒平均粒径的快速测定方法。

为实现上述目的,本发明所采用的技术方案的具体步骤是:

第一步、取干燥洁净的U型样品管,测得所述U型样品管的质量为m0;再取0.10~5.00g的待测颗粒装入所述U型样品管底部。

第二步、将装有待测颗粒的U型样品管置于真空干燥箱中,在温度为75~150℃的条件下热处理5~8分钟,自然冷却至室温,测得装有待测颗粒的U型样品管质量为m1

第三步、将热处理后的装有待测颗粒的U型样品管接入热导池检测器,然后在U型样品管中通入混合气体3~5分钟;再将接入热导池检测器的U型管浸入液氮中,静置5~6分钟。

所述混合气体中的高纯氮气与高纯氦气的质量比为3∶7;

所述混合气体的流速为20~25mL/min。

第四步、将接入热导池检测器的U型样品管从液氮中取出,在35℃条件下测得待测颗粒吸附的气体体积V。

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