[发明专利]触摸检测装置

说明书

本发明涉及抑制触摸操作的检测精度降低的触摸检测装置。若对触摸操作部长按操作持续时间(Ts)以上，则控制器根据静电电容值(Cap)更新作为检测触摸操作的阈值(Cth)的基准的基准电容值(Cbase)。基准电容值的更新将减少前的静电电容值设为初始值(C0)，并且根据静电电容值是否是规定电容值(Cref)以上来设定静电电容值(ΔC)(步骤120～128)。之后，将静电电容值相对于初始值的变化达到静电电容值(ΔC)后的静电电容值设定为基准电容值(步骤132～140)。由此，能够适当地更新相对于阈值的基准电容值，能够抑制触摸操作的检测精度的降低。

技术领域

本发明涉及触摸检测装置。

背景技术

专利文献1的触摸式输入装置，在将多个驱动电极与多个传感器电极重叠为网格状而形成传感器图案的触摸面板中，控制器检测驱动电极与传感器电极的每个交点部分的静电电容的变化，检测触摸操作。在该触摸式输入装置中，通过使交点部分的静电电容分别处于恒定范围内的状态持续恒定时间，来更新基准值。

专利文献1：日本特开2017-111507号公报

然而，在接触式传感器中，在通过使静电电容处于恒定范围内的状态持续恒定时间来更新基准值的情况下，不仅基准值的更新周期变长，而且更新基准值的时刻受到限制。据此，考虑手指对接触式传感器长时间触摸的长按操作之后使用经过规定时间后的静电电容来更新基准值的方法。

然而，在该方法中，缩短长按操作后的经过时间，从而能够缩短用于基准值的更新的时间，但若在静电电容未充分降低的状态下设定基准值，则成为误检测的原因。

发明内容

本发明正是鉴于上述事实而完成的，目的是提供一种能够抑制检测精度的降低的触摸检测装置。

用于实现上述目的第一实施方式的触摸检测装置包含：传感器部，其通过操作者与传感器电极接近而使传感器电极中的静电电容变化；检测部，其检测上述传感器电极中的静电电容值；判定部，其使用预先设定的基准值以及针对上述基准值设定的阈值，根据由上述检测部检测出的上述静电电容值是否达到上述阈值，来判定操作者是否与上述传感器部接近；以及更新部，其在由上述检测部检测的静电电容值达到上述阈值的状态下，在经过了规定的经过时间后的静电电容值成为预先设定的规定值以上的情况下，将该静电电容值设定为初始值，将由上述检测部检测的静电电容值相对于上述初始值的变化达到预先设定的变化静电电容值后的静电电容值更新为新的基准值。

第二实施方式的触摸检测装置在第一实施方式中，包含以下情况，即、上述更新部在经过了上述经过时间后的静电电容值小于上述规定值的情况下，以与该静电电容值是上述规定值以上的情况相比变小的方式设定上述变化静电电容值，将由上述检测部检测的静电电容值相对于上述初始值的变化达到上述变化静电电容值后的静电电容值更新为新的基准值。

第三实施方式的触摸检测装置在第二实施方式中，预先设定作为经过了上述经过时间后的上述静电电容值是上述规定值以上的情况下的上述变化静电电容值的第一静电电容值、以及作为经过了上述经过时间后的上述静电电容值小于上述规定值的情况下的上述变化静电电容值的第二静电电容值。

第四实施方式的触摸检测装置在第一～第三中任一个实施方式中，上述更新部将从经过了上述经过时间的时刻到由上述检测部检测的静电电容值开始减少的期间的静电电容值的最大值作为上述初始值。

第五实施方式的触摸检测装置在第一～第四中任一个实施方式中，上述变化静电电容值设为比更新前的基准值与上述阈值之差大的静电电容值。

在第一实施方式的触摸检测装置中，将通过操作者接近而使静电电容变化的传感器电极设置于传感器部，检测部检测传感器电极中的静电电容值。判定部使用预先设定的基准值、以及相对于基准值而设定的阈值，根据由检测部检测出出的静电电容值是否达到阈值，来判定操作者是否与传感器部接近。因此，通过更新基准值，来改变阈值。