[发明专利]微纳光学薄膜研发用膜体承重曲张检测装置及其实施方法

说明书

本发明公开了微纳光学薄膜研发用膜体承重曲张检测装置，本发明还公开了微纳光学薄膜研发用膜体承重曲张检测装置的实施方法，包括支撑固定机构、高压吹出机构和落块冲击机构，高压吹出机构固定安装在支撑固定机构上，且落块冲击机构活动安装在高压吹出机构上，通过高压气流将安装在连接管头上的落块冲击机构吹出，并冲击在薄膜上，完成对薄膜的冲击，无需将落块冲击机构置于特定的高度上，更加的方便了，且使得仪器的占地面积更小，同时在进行冲击时，若需要改变冲击力度，无需对配重块的质量进行增加或减少，只需要对高压气泵的喷气强度进行调节，使得落块冲击机构从连接管头上吹出的力度得到改变，更加的方便。

技术领域

本发明涉及薄膜生产检测设备技术领域，具体为微纳光学薄膜研发用膜体承重曲张检测装置及其实施方法。

背景技术

由薄的分层介质构成的，通过界面传播光束的一类光学介质材料。光学薄膜的应用始于20世纪30年代。现代，光学薄膜已广泛用于光学和光电子技术领域，制造各种光学仪器。

落镖冲击试验仪又称落镖冲击试验机是在给定高度的自由落镖冲击下，测定50％的试样破损时的能量(用质量表示)的一种试验机，适用于塑料薄膜和薄片以及钢板涂层。该装置在对薄膜进行承重曲张检测时，需要将冲击块置于一定高度上进行下落冲击薄膜，达到检测的目的，但需要将冲击块置于一定的高度上才能进行检测，非常的不方便，且在进行改变冲击力度时，需要对冲击块进行增重处理，给检测带来不便。

针对上述问题，本发明提供了微纳光学薄膜研发用膜体承重曲张检测装置及其实施方法。

发明内容

本发明的目的在于提供微纳光学薄膜研发用膜体承重曲张检测装置及其实施方法，包括支撑固定机构、高压吹出机构和落块冲击机构，高压吹出机构固定安装在支撑固定机构上，且落块冲击机构活动安装在高压吹出机构上，无需特定的高度也可进行检测，且改变冲击力度时无需对冲击块进行质量的改变，非常的方便，从而解决了背景技术中的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：微纳光学薄膜研发用膜体承重曲张检测装置，包括支撑固定机构、高压吹出机构和落块冲击机构，所述高压吹出机构固定安装在支撑固定机构上，且落块冲击机构活动安装在高压吹出机构上，所述支撑固定机构设置有固定箱座、薄膜固定板和防冲击板，固定箱座的上端一侧固定焊接薄膜固定板，防冲击板固定焊接在固定箱座的下端一侧；

所述高压吹出机构包括固定安装在固定箱座内部的高压气泵，以及安装在固定箱座上端的导气管道，且导气管道与高压气泵的输气端固定连接，并在导气管道的出气端固定焊接连接管头；

所述落块冲击机构包括配重块、插接柱头和锁紧磁块件，配重块的上端固定焊接插接柱头，锁紧磁块件设置两组，两组的锁紧磁块件活动安装在插接柱头的上端两侧。

进一步地，薄膜固定板包括开设在中间的贯穿测试孔，以及安装在薄膜固定板上的固定框圈，固定框圈通过螺栓连接在薄膜固定板上，且直径大于贯穿测试孔的直径。

进一步地，防冲击板设置有缓冲橡胶垫，缓冲橡胶垫固定安装在防冲击板的上端面。

进一步地，连接管头设置有磁铁A，磁铁A设置两组，两组的磁铁A固定安装在连接管头的内部。

进一步地，配重块为圆柱状结构，且下端为半球状。

进一步地，插接柱头设置有安装槽位和挡块，安装槽位设置两组，两组的安装槽位开设在插接柱头的上端面，挡块固定焊接在安装槽位内，且挡块为三角斜块结构。

进一步地，锁紧磁块件设置有转动块、安装轴柱和磁块B，转动块为一面平面，一面弧面的结构，安装轴柱固定安装在转动块的两侧，磁块B固定安装在转动块的平面上，且与磁铁A的磁性相反。

进一步地，转动块设置有内腔槽和滚珠，内腔槽开设在转动块的内部，滚珠活动设置在内腔槽内。