[发明专利]基于空间频域成像的光学特性测量方法、装置及系统

说明书

本申请公开了一种基于空间频域成像的光学特性测量方法、装置及系统，用以提高空间频域成像的测量速度。所述方法包括：在空间频域对光源发射的第一光线进行调制，以得到指定空间频率的第一目标正弦光图案，所述第一目标正弦光图案的编码比特数量小于预设比特数量；将所述第一目标正弦光图案照射至待测样品的表面；采集第二光线的光强分布数据，所述第二光线为所述第一目标正弦光图案被所述待测样品反射后形成；根据所述第二光线的光强分布数据，确定所述待测样品的光学特性参数。

技术领域

本申请涉及光学技术领域，尤其涉及一种基于空间频域成像的光学特性测量方法、装置及系统。

背景技术

空间频域成像(Spatial Frequency-domain Imaging，SFDI)技术是一种新型的非接触式光学成像技术，其利用空间调制代替时间调制光源发射的光线，以形成具备特定空间频率的结构光，并利用对具有光学吸收和散射性质的物体(如生物组织、水果、气体、散射介质等)对结构光的响应，来对物体的光学特性进行测量。

目前，在利用空间频域成像进行光学特性测量时，由于测量硬件的限制，导致测量速度较慢，不够理想。因此，亟需一种能够快速进行空间频域成像测量的方案。

发明内容

本申请实施例的目的是提供一种基于空间频域成像的光学特性测量方法、装置及系统，用以提高空间频域成像的测量速度。

为了解决上述技术问题，本申请实施例采用下述技术方案：

第一方面，提出了一种基于空间频域成像的光学特性测量方法，包括：

在空间频域对光源发射的第一光线进行调制，以得到指定空间频率的第一目标正弦光图案，所述第一目标正弦光图案的编码比特数量小于预设比特数量；

将所述第一目标正弦光图案照射至待测样品的表面；

采集第二光线的光强分布数据，所述第二光线为所述第一目标正弦光图案被所述待测样品反射后形成；

根据所述第二光线的光强分布数据，确定所述待测样品的光学特性参数。

第二方面，提出了一种基于空间频域成像的光学特性测量装置，包括：

第一调制模块，用于在空间频域对光源发射的第一光线进行调制，以得到指定空间频率的第一目标正弦光图案，所述第一目标正弦光图案的编码比特数量小于预设比特数量；

第一照射控制模块，用于将所述第一目标正弦光图案照射至待测样品的表面；

第一数据采集模块，用于采集第二光线的光强分布数据，所述第二光线为所述第一目标正弦光图案被所述待测样品反射后形成；

确定模块，用于根据所述第二光线的光强分布数据，确定所述待测样品的光学特性参数。

第三方面，提出了一种基于空间频域成像的光学特性测量装置，包括：存储器和与所述存储器电连接的处理器，所述存储器存储有可在所述处理器运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现如第一方面所述的方法的步骤。

第四方面，提出了一种基于空间频域成像的光学特性测量系统，包括：

光源，用于发射第一光线；

光调制装置，用于在空间频域对所述第一光线进行调制，以得到指定空间频率的第一目标正弦光图案，以及将所述第一目标正弦光图案照射至待测样品的表面，所述第一目标正弦光图案的编码比特数量小于预设比特数量；

成像探测装置，用于采集第二光线的光强分布数据，所述第二光线为所述第一目标正弦光图案被所述待测样品反射后形成；