[发明专利]一种行程检测芯片和按键检测系统

说明书

本发明提供了一种行程检测芯片和应用该行程检测芯片的按键系统，其中该行程检测芯片驱动发光二极管发射光线，该光线被遮光片部分遮挡后照射到光电二极管或者光电三极管上，芯片驱动光电二极管或光电三级管并将照射在其上的光线强度转换成数字值，从而表征遮光片的行程，本行程检测芯片通过串行接口与主控芯片通信，支持菊花链的形式扩展使用，以上特征使该行程检测芯片可以高效的应用到按键检测系统中，开发出高效高可靠的按键检测系统，并使按键的触发点任意调节。

技术领域

本发明专利涉及一种芯片，主要涉及一种行程检测芯片。

背景技术

在一些应用中，需要检测多个点的按键行程，比如电钢琴或电子琴的琴键和脚踏板、电脑键盘的按键以及一些游戏机手柄按键等。目前在这些应用中的行程检测手段大部分都是基于在按键行程上设置一个或多个触发点来检测按键的行程，这种检测手段只适设置少量的触发点，随着触发点的增多，系统复杂度和成本会急剧上升，并且目前的检测方式大多是基于矩阵扫描或者分区扫描的方式来分时检测整个系统中的多个点，速度较慢。

本发明公布的行程检测芯片通过光学检测的方式，可以检测按键的具体行程，在主控芯片中任意设置按键的触发点，并且通过菊花链的方式方便的检测系统中的多个按键的行程，并且可以同时检测按键检测系统中所有点的行程，速度比矩阵扫描和分区扫描快。

在一些按键检测系统中，需要LED灯效显示，目前的LED灯效方案大多需要一颗专门的LED灯效控制芯片实现，这样的控制方式成本较高，而且LED控制布线困难，本发明的行程检测芯片集成了LED灯效控制功能，可以方便的开发出带有灯效的按键检测系统。

发明内容

本发明提供了一种行程检测芯片和应用该行程检测芯片的按键系统，其中该行程检测芯片驱动发光二极管发射光线，该光线被遮光片部分遮挡后照射到光电二极管或者光电三极管上，芯片驱动光电二极管或光电三级管并将照射在其上的光线强度转换成数字值，从而表征遮光片的行程，本行程检测芯片通过串行接口与主控芯片通信，支持菊花链的形式扩展使用。

优选的，整个按键检测系统可以用一条菊花链串联起来，也可以划分成多条菊花链实现。

优选的，可以对按键检测系统的所有按键同时检测，也可以分时对按键系统内的按键进行检测。

优选的，每个行程检测芯片可以驱动一个或多个LED灯，也可以不驱动LED灯。

优选的，该按键检测系统可以任意设置按键的触发点。

综上所述，利用本发明的行程检测芯片可以开发出高效可靠的按键检测系统，并且可以任意设置按键触发点。

附图说明

本发明上述的以及其他的特征、性质和优势将通过下面附图结合实施例的描述而变得更加明显，在附图中相同的附图标记始终表示相同的特征，其中：

图1示出了本发明芯片的输出数字信号与光电二极管或光电三极管上光照强度的关系示意图；

图2示出了本发明芯片的输出信号与遮光板高度的关系示意图；

图3示出了本发明芯片的主要功能模块框图；

图4示出了本发明行程检测芯片的应用示意图；

图5示出了本发明的实施例一；

附图标记

100，100-1，100-2，100-3——行程检测芯片；

101，101-1，101-2，101-3——行程检测芯片DIN引脚；

102，102-1，102-2，102-3——行程检测芯片SCK引脚；

103，103-1，103-2，103-3——行程检测芯片DOUT引脚；

104，104-1，104-2，104-3——行程检测芯片IR引脚；

105，105-1，105-2，105-3——行程检测芯片PD引脚；