[发明专利]大斜度井地层真厚度计算方法、装置、电子设备及介质在审
| 申请号： | 202110308325.6 | 申请日： | 2021-03-23 |
| 公开（公告）号： | CN115114558A | 公开（公告）日： | 2022-09-27 |
| 发明（设计）人： | 杨俊;吴小奇;肖开华;金武军;徐康;陈迎宾;周小进;周凌方;王彦青 | 申请（专利权）人： | 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院 |
| 主分类号： | G06F17/10 | 分类号： | G06F17/10;G06Q10/06;G06Q50/02 |
| 代理公司： | 北京思创毕升专利事务所 11218 | 代理人： | 孙向民;廉莉莉 |
| 地址： | 100027 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 斜度 地层 厚度 计算方法 装置 电子设备 介质 | ||
1.一种大斜度井地层真厚度计算方法，其特征在于，包括：
确定目标大斜度井的顶面靶点与底面靶点相对于井口的三维坐标；
确定所述顶面靶点或所述底面靶点在构造图上的构造投影点的海拔埋深；
计算地层视倾角；
根据所述地层视倾角，计算地层真厚度。
2.根据权利要求1所述的大斜度井地层真厚度计算方法，其中，还包括：
判断所述大斜度井为顺层或逆层。
3.根据权利要求2所述的大斜度井地层真厚度计算方法，其中，若所述大斜度井为顺层，计算地层视倾角包括：
确定所述顶面靶点在地层底面上的第一构造投影点；
确定所述顶面靶点在所述底面靶点所在水平面的第一水平投影点；
计算所述底面靶点与所述第一水平投影点的距离以及所述第一构造投影点与所述第一水平投影点的距离；
计算所述地层视倾角。
4.根据权利要求3所述的大斜度井地层真厚度计算方法，其中，还包括：
确定所述底面靶点在顶面构造图上的构造投影点的海拔埋深；
确定所述底面靶点在所述顶面靶点所在水平面的水平投影点；
所述底面靶点与所述第一水平投影点的距离等于所述顶面靶点与所述水平投影点的距离，所述第一构造投影点与所述第一水平投影点的距离等于所述构造投影点与所述水平投影点的距离。
5.根据权利要求2所述的大斜度井地层真厚度计算方法，其中，若所述大斜度井为逆层，计算地层视倾角包括：
确定所述底面靶点在顶面构造图上的构造投影点的海拔埋深；
确定所述底面靶点在所述顶面靶点所在水平面的水平投影点；
计算所述顶面靶点与所述水平投影点的距离以及所述构造投影点与所述水平投影点的距离；
计算所述地层视倾角。
6.根据权利要求4或5所述的大斜度井地层真厚度计算方法，其中，所述地层视倾角为：
其中，β为地层视倾角，Db为底面靶点在顶面构造图上的构造投影点的海拔埋深，Za为顶面靶点的Z轴坐标，即顶面靶点的实钻海拔埋深，Xa为顶面靶点沿X轴距井口的偏移距离，Xb为底面靶点沿X轴距井口的偏移距离，Ya为顶面靶点沿Y轴距井口的偏移距离，Yb为底面靶点沿Y轴距井口的偏移距离。
7.根据权利要求6所述的大斜度井地层真厚度计算方法，其中，通过公式(2)计算所述地层真厚度：
其中，H为地层真厚度，Zb为底面靶点的Z轴坐标，即底面靶点的实钻海拔埋深。
8.一种大斜度井地层真厚度计算装置，其特征在于，包括：
三维坐标确定模块，确定目标大斜度井的顶面靶点与底面靶点相对于井口的三维坐标；
构造投影模块，确定所述顶面靶点或所述底面靶点在构造图上的构造投影点的海拔埋深；
地层视倾角计算模块，计算地层视倾角；
地层真厚度计算模块，根据所述地层视倾角，计算地层真厚度。
9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：
存储器，存储有可执行指令；
处理器，所述处理器运行所述存储器中的所述可执行指令，以实现权利要求1-7中任一项所述的大斜度井地层真厚度计算方法。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，该计算机可读存储介质存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-7中任一项所述的大斜度井地层真厚度计算方法。
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