[发明专利]一种避免芯片位置出现偏离的自动检测设备

权利要求书

1.一种避免芯片位置出现偏离的自动检测设备，包括芯片测验座(1)，其特征在于：所述芯片测验座(1)的内部固定连接有防护座(2)，所述芯片测验座(1)的内部转动连接有驱动座(3)，所述防护座(2)的内部固定连接有芯片卡轨(4)，所述防护座(2)的内部活动连接有压力架(5)，所述压力架(5)的内部活动连接有压力簧(6)，所述压力架(5)的侧表面活动连接有凸形压座(7)，所述防护座(2)的内部且位于凸形压座(7)的侧表面活动连接有第一压缩囊座(8)，所述第一压缩囊座(8)的左右两侧均贯穿有环形管道(9)，所述环形管道(9)的另一端贯穿在第二压缩囊座(10)的内部，所述第二压缩囊座(10)的内部活动连接有形变簧(11)，所述第二压缩囊座(10)的外表面活动连接有推座(12)，所述推座(12)的外表面固定连接有弧形扶板(13)，所述第二压缩囊座(10)的另一侧活动连接有啮合柱(14)，所述防护座(2)的内部固定连接有限位盘(15)，所述限位盘(15)的外表面且位于啮合柱(14)的另一端转动连接有斜轴(16)，所述斜轴(16)的侧表面活动连接有嵌入柱(17)，所述嵌入柱(17)的另一侧固定连接有电性板(18)，所述电性板(18)的外表面固定连接有检测板(19)，所述防护座(2)的外表面固定连接有回收架(20)。

2.根据权利要求1所述一种避免芯片位置出现偏离的自动检测设备，其特征在于：所述驱动座(3)的内部转动连接有转轴，所述芯片测验座(1)的内部开设有与驱动座(3)相适配的槽。

3.根据权利要求1所述一种避免芯片位置出现偏离的自动检测设备，其特征在于：所述防护座(2)的内部开设有与芯片卡轨(4)相适配的槽，所述防护座(2)的内部开设有与压力架(5)相适配的槽。

4.根据权利要求1所述一种避免芯片位置出现偏离的自动检测设备，其特征在于：所述防护座(2)的内部开设有与第一压缩囊座(8)相适配的安装槽，所述第一压缩囊座(8)的内部开设有与环形管道(9)相适配的槽，所述第二压缩囊座(10)的外表面开设有与环形管道(9)相适配的槽。

5.根据权利要求1所述一种避免芯片位置出现偏离的自动检测设备，其特征在于：所述弧形扶板(13)的外表面套接有橡胶套，所述弧形扶板(13)设置在芯片卡轨(4)的两侧。

6.根据权利要求1所述一种避免芯片位置出现偏离的自动检测设备，其特征在于：所述防护座(2)的内部设置有与啮合柱(14)相适配的限位架，所述限位盘(15)的外表面设置有与斜轴(16)相适配的限位槽。