[发明专利]一种深部地温场预测方法、设备及存储介质有效
申请号: | 202110308458.3 | 申请日: | 2021-03-23 |
公开(公告)号: | CN113176618B | 公开(公告)日: | 2022-06-24 |
发明(设计)人: | 黄国疏;胡祥云;蔡建超;马火林;陈斌 | 申请(专利权)人: | 中国地质大学(武汉) |
主分类号: | G01V3/38 | 分类号: | G01V3/38;G01V3/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 430000 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 地温 预测 方法 设备 存储 介质 | ||
1.一种深部地温场预测方法,其特征在于,所述深部地温场预测方法包括以下步骤:
获取研究区或相邻区域m口井的温度-电阻率数据对,依据深度将所述温度-电阻率数据对等分成N段,并将每口井各段电阻率进行归一化处理,得到多组归一化电阻率-温度数据集;
根据所述多组归一化电阻率-温度数据集,通过两组归一化电阻率-温度关系约束方程,计算得到不同井位不同层段的最优校正温度、本征归一化电阻率和温度校正系数;
基于改进传统经验公式,得到与温度T(i)变化呈线性变化关系公式:
其中,ρNorm(i)为每口井第i层段内所有测点归一化测井电阻率数据集,T(i)为每口井第i层段内所有测点测井温度数据集;
对所述线性变化关系公式进行转换,得到转换公式:计算所述转换公式的斜率B和截距A,得到:
根据岩石电阻率与温度的对数相关关系,在任意层段内,测量归一化电阻率ρNorm(i)与温度T(i)之间的关系,得到归一化电阻率与温度关系公式为:
ρNorm(i)=-C ln(T(i))+D
其中,C与D均为与岩层结构、地质背景、电性特征相关的系数;
将T=Ttest代入式所述线性变化关系公式和所述归一化电阻率与温度关系公式进行折算,同时结合所述转换公式的斜率B和截距A得到如下公式:
对Ttest求导,得到:
求解得到:
上述A、B、C和D均由测井不同层段归一化电阻率ρNorm(i)与温度T(i)数据对获取,故在计算出每层段最优校正温度T0=Ttest的基础上,由所述归一化电阻率与温度关系公式和所述转换公式的斜率B和截距A分别计算得到每层段最优温度条件下的本征归一化电阻率ρNT0和温度校正系数αT0;
将所述最优校正温度、所述本征归一化电阻率和所述温度校正系数在不同井位不同层段的取值分别与对应层段深度构建目标数据集,对所述目标数据集进行回归分析,得到所述最优校正温度、所述本征归一化电阻率和所述温度校正系数随深度的变化关系,分别表示为T0(z),ρNT0(z),αT0(z);
对研究区电磁数据体进行精细反演,获取地下空间各节点P(x,z)的反演电阻率ρinv(x,z)的分布特征,并将所述反演电阻率剖面随深度等分成M段,对每段的反演电阻率进行归一化处理,得到不同层段不同节点的归一化反演电阻率ρNinv(x,z);其中,x为反演电阻率剖面的横向点位距离,z为反演电阻率剖面的纵向深度;
基于所述T0(z),ρNT0(z),αT0(z)和所述ρNinv(x,z),得到研究区地下不同层段不同节点的归一化反演电阻率与温度之间的关系表征,所述关系表征为:
其中,T(x,z)为各节点温度预测值;
根据所述ρNinv(x,z)和所述关系表征预测研究区地下空间温度场的展布特征。
2.如权利要求1所述的深部地温场预测方法,其特征在于,所述将每口井各段电阻率进行归一化处理,其中,归一化处理公式为:
其中,ρlog(i,j)为每口井第i层段内第j个测点电阻率测井数据,ρlog(i)为每口井第i层段内所有测点的测井电阻率数据集,max[ρlog(i)]表示每口井第i层段内所有测井电阻率数据集的最大值,ρNorm(i,j)即为每口井第i层段内第j个测点归一化测井电阻率,i=1,2,3…N。
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