[发明专利]温湿度控制装置、方法、CT系统、电子设备及存储介质

说明书

本发明提供了一种温湿度控制装置、方法、CT系统、电子设备及存储介质，温湿度控制装置包括获取实时温度数据的温度采集模块、获取实时湿度数据的湿度采集模块、具有模糊控制模块和PWM驱动模块的主控单元、温度控制模块和湿度控制模块。模糊控制模块根据实时温度数据和预设温度等级划分规则、实时湿度数据和预设湿度等级划分规则、以及预设温湿度调整规则，获取目标温度控制信号和目标湿度控制信号；PWM驱动模块根据所述目标温度控制信号进行温度控制，并根据目标湿度控制信号，进行湿度控制。本发明提供的温湿度装置，不仅控制精度和稳定性高，而且不需要复杂的数学模型，实现方法简单，调试方便，能够显著缩短开发周期，易于实施。

技术领域

本发明涉及温湿度控制技术领域，特别涉及一种温湿度控制装置、方法、CT系统、电子设备及存储介质。

背景技术

随着光子计数计算机断层扫描仪(PCCT)的出现，对图像质量的要求越来越高，所需的工作环境越来越苛刻，尤其是温度和湿度都必须控制在合适的范围内，比如，为了得到高质量的图形质量，PCCT应工作在40℃左右和26％湿度的环境中。而传统的CT系统，通常分别采用温度控制模块和湿度控制模块来实现对温度及湿度的控制。具体地，现有技术中主要有以下两种常见的技术方案：

其中一种是采用简单的比例控制：当温度高于温度设定阈值时，关闭温度控制设备，当温度低于温度阈值时，打开温度控制设备。与此类似，当湿度高于阈值或低于阈值时关闭或打开湿度控制设备。很显然地，该方法的缺陷在于：精度较低且温湿度波动性较大。

为了提高温湿度的控制精度，另外一种是采用传统的PID控制方法，即两个PID模块分别对温度模块和湿度模块进行控制。该方法存在如下缺陷：

1、需要建立复杂的数学模型，各参数的选择比较复杂。

2、使用FPGA来实现PID控制比较复杂，需要的代码量十分庞大，调试难度大，开发周期长。

另外，上述两种方法都是对温度和湿度分别调节，事实上，二者之间是相互影响的，湿度影响温度，温度可以改变湿度。即上述两种方法由于分别调节温度和湿度，由此，可能造成在把温度调节到目标范围后，由于影响了湿度，又不得不接着调节湿度，反之亦然，造成多次调节才能使得温度和湿度均在目标范围，导致温湿度的稳定性差。而现有的以上两种技术方案，同时进行温度和湿度调节的难度较大。

因此，如何提出一种新的温湿度控制技术方案，以克服现有技术中存在的上述缺陷，日益成为本领域技术人员亟待解决的技术问题之一。

需要说明的是，公开于该发明背景技术部分的信息仅仅旨在加深对本发明一般背景技术的理解，而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域技术人员所公知的现有技术。

发明内容

本发明的目的在于，针对现有技术中温湿度控制技术存在的上述缺陷，提供一种温湿度控制装置、方法、CT系统、电子设备及存储介质，本发明提供的温湿度控制装置不仅结构简单、易于实现和便于维护，而且能够实现高精度的温度湿度控制。

为实现上述目的，本发明通过以下技术方案予以实现，一种温湿度控制装置，包括温度采集模块、湿度采集模块、主控单元、温度控制模块和湿度控制模块；所述主控单元的输入端连接所述温度采集模块和所述湿度采集模块，所述主控单元的输出端连接所述温度控制模块和所述湿度控制模块；

所述温度采集模块被配置为获取实时温度数据，所述湿度采集模块被配置为获取实时湿度数据；

所述主控单元被配置为：接收所述实时温度数据和所述实时湿度数据，并用于根据所述实时温度数据和预设温度等级划分规则，获取实时温度等级，以及根据所述实时湿度数据和预设湿度等级划分规则，获取实时湿度等级；

所述主控单元还用于根据所述实时温度等级、所述实时湿度等级和预设温湿度调整规则，获取目标温度控制信号和目标湿度控制信号；