[发明专利]三维存储器件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 202110311888.0 申请日: 2021-03-24
公开(公告)号: CN112968029B 公开(公告)日: 2022-06-03
发明(设计)人: 颜丙杰;周文犀 申请(专利权)人: 长江存储科技有限责任公司
主分类号: H01L27/11556 分类号: H01L27/11556;H01L27/11521;H01L27/11582;H01L27/11568
代理公司: 北京英思普睿知识产权代理有限公司 16018 代理人: 刘莹;聂国斌
地址: 430000 湖北省武*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 三维 存储 器件 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种三维存储器件,其特征在于,包括:

衬底,包括台阶区;

堆叠结构,设置于衬底上,包括交替堆叠的栅极层和绝缘层,所述堆叠结构位于所述台阶区的部分包括多个台阶,所述台阶对应一个所述栅极层;

绝缘介质层,覆盖所述多个台阶;

多个虚拟沟道结构,所述虚拟沟道结构贯穿所述绝缘介质层和所述堆叠结构的位于所述台阶区的部分,所述虚拟沟道结构包括保护层,所述保护层的材料与所述绝缘介质层的材料不同,其中,所述保护层的刻蚀速率小于所述绝缘介质层的刻蚀速率;以及

多个导电柱,所述导电柱贯穿所述绝缘介质层且与对应所述台阶的所述栅极层电连接,其中,所述导电柱与相邻的所述虚拟沟道结构的保护层接触,且在垂直于所述堆叠结构的堆叠方向的平面内,所述导电柱的外周与所述虚拟沟道结构相接触的部位的长度占所述导电柱的外周长度的一半以上。

2.根据权利要求1所述的三维存储器件,其中,所述绝缘介质层相对于所述保护层具有大于10的蚀刻选择比。

3.根据权利要求1所述的三维存储器件,其中,所述导电柱的外周与所述虚拟沟道结构相接触的部位的长度占所述导电柱的外周长度的60%至80%。

4.根据权利要求1所述的三维存储器件,其中,至少一个所述虚拟沟道结构包括彼此间隔设置的多个子虚拟沟道结构,每一所述子虚拟沟道结构包括所述保护层;

在垂直于所述堆叠结构的堆叠方向的平面内,所述导电柱位于所述多个子虚拟沟道结构之间的间隔区域。

5.根据权利要求4所述的三维存储器件,其中,所述子虚拟沟道结构在垂直于所述堆叠结构的堆叠方向的平面内的投影具有凹字形、三角形或四边形。

6.根据权利要求4或5所述的三维存储器件,其中,所述虚拟沟道结构包括第一子虚拟沟道结构和第二子虚拟沟道结构,以及

其中,在垂直于所述堆叠结构的堆叠方向的平面内,所述第一子虚拟沟道结构和所述第二子虚拟沟道结构沿第一方向设置于所述导电柱的相对的两侧,且所述第一子虚拟沟道结构的保护层和所述第二子虚拟沟道结构的保护层均与所述导电柱接触。

7.根据权利要求6所述的三维存储器件,其中,所述虚拟沟道结构还包括第三子虚拟沟道结构,以及

其中,在垂直于所述堆叠结构的堆叠方向的平面内,所述第三子虚拟沟道结构沿不同于所述第一方向的第二方向设置于所述导电柱的一侧。

8.根据权利要求4所述的三维存储器件,其中,所述虚拟沟道结构包括第四子虚拟沟道结构;以及

其中,所述第四子虚拟沟道结构与所述导电柱之间具有间隔。

9.根据权利要求1所述的三维存储器件,其中,所述虚拟沟道结构还包括绝缘填充层,所述保护层围绕所述绝缘填充层。

10.根据权利要求1所述的三维存储器件,其中,所述保护层的材料为三氧化二钇或三氧化二铝。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于长江存储科技有限责任公司,未经长江存储科技有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110311888.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top