[发明专利]一种通用的KPI异常检测框架实现方法有效
申请号: | 202110312047.1 | 申请日: | 2021-03-24 |
公开(公告)号: | CN113377630B | 公开(公告)日: | 2023-07-04 |
发明(设计)人: | 崔英花 | 申请(专利权)人: | 北京信息科技大学 |
主分类号: | G06F11/34 | 分类号: | G06F11/34;H04L43/08;G06N3/04;G06F18/23 |
代理公司: | 北京八月瓜知识产权代理有限公司 11543 | 代理人: | 李斌 |
地址: | 100192 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 通用 kpi 异常 检测 框架 实现 方法 | ||
1.通用的KPI异常检测框架实现方法,其特征在于:包括如下步骤:步骤1:采用动态基线方法判定KPI数据是否异常;
步骤2:从统计特征算法库中选择若干算法进行权重投票进一步做排查步骤1排查后的异常数据,基于统计理论判断时间序列数据是否发生异常,将多种基于统计特征的异常检测算法组成统计特征算法库,算法模型从中选择若干算法并赋予不同的权重,如果判定异常数大于等于阈值,就判定为异常;
步骤3:从算法库中选择算法对步骤2排查后的异常数据进行检查;
在步骤1之前,还包括步骤4,使用RockA算法对不同KPI数据做聚类分析。
2.根据权利要求1所述的通用的KPI异常检测框架实现方法,其特征在于:步骤3的算法库中包括基于有监督的Apprentice、XGBoost、基于神经网络方法的DeepAR和Donut算法。
3.根据权利要求1所述的通用的KPI异常检测框架实现方法,其特征在于:步骤1中采用ETS方法来建立动态基线。
4.根据权利要求1所述的通用的KPI异常检测框架实现方法,其特征在于:为每个聚类选定不同的集成算法,每个集成算法对应一组步骤1-3异常检测算法的参数选择,通过聚类分析能够找到相似的KPI,将它们划分为若干聚类簇,在每个聚类簇中应用相同的异常检测算法。
5.根据权利要求4所述的通用的KPI异常检测框架实现方法,其特征在于:步骤4具体为首先对原始KPI数据进行标准化,消除振幅差异;去除曲线上的噪声和可能的异常点,提取基线来表示曲线的形状;接着采用基于形状的SBD距离作为相似性度量,消除曲线间的相位偏差影响;最后对样本集中的KPI进行高效、鲁棒的聚类,为每个类别计算聚类中心表征该类别曲线形状,对于大量未分类曲线,利用聚类中心为其快速分派类别。
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