[发明专利]一种电子能损计算方法、装置及电子设备

权利要求书

1.一种电子能损计算方法，其特征在于，所述方法包括：

获取计算参数，所述计算参数包括入射离子的原子序数、原子质量和动能，以及材料的原子序数和原子质量；

将所述入射离子的所述原子序数、所述原子质量和所述动能，以及所述材料的所述原子序数和所述原子质量进行预处理，获得预处理后的参数；

将所述预处理后的参数输入预测数据模型，并输出获得所述材料对所述入射离子的能量损失。

2.根据权利要求1所述的电子能损计算方法，其特征在于，所述方法还包括：获取所述预测数据模型；

所述获取所述预测数据模型包括：

获取实验数据库；

根据所述实验数据库获取训练样本和测试样本；

将所述训练样本和所述测试样本中的数据进行正则化操作，以获得所述数据对应的正则化参数；

将所述训练样本输入预设算法模型中进行训练，并输出训练结果；

根据所述训练结果，将所述测试样本输入训练好的所述预设算法模型中进行测试，并输出测试结果；

基于所述正则化参数约束所述训练结果和所述测试结果的关系，以使所述训练结果与所述测试结果逼近；

将输出的训练结果最逼近所述测试结果的算法模型作为所述预测数据模型。

3.根据权利要求2所述的电子能损计算方法，其特征在于，所述根据所述实验数据库获取训练样本和测试样本，包括：

按照预设比例将所述实验数据库中的数据划分为第一训练样本和测试样本；

获取第一入射离子能量和第二入射离子能量对应的电子阻止本领数据，所述电子阻止本领数据作为边界数据集；

将所述边界数据集和所述第一训练样本进行合并作为训练样本。

4.根据权利要求3所述的电子能损计算方法，其特征在于，所述获取第一入射离子能量和第二入射离子能量对应的电子阻止本领数据，包括：

确定第一入射离子能量和第二入射离子能量；

根据下述公式分别计算所述第一入射离子能量对应的电子阻止本领数据，以及所述第二入射离子能量对应的电子阻止本领数据；

所述公式包括：

其中，Z₁是所述第一入射离子能量和所述第二入射离子能量分别对应的入射离子的原子序数，Z₂是所述入射离子对应的材料的原子序数，M₁是所述入射离子的原子质量，E_in是所述入射离子的动能，S_e是所述电子阻止本领数据。

5.根据权利要求2所述的电子能损计算方法，其特征在于，将所述训练样本和所述测试样本中的数据进行正则化操作，以获得所述数据对应的正则化参数，包括：

获取所述训练样本和所述测试样本中每一项参数的平均值和标准差；

根据所述平均值、所述标准差以及下述公式计算所述参数对应的正则化参数；

所述公式包括：

其中，MAPE为所述参数对应的正则化参数，N为所述参数的数据个数，i为第i个参数。

6.根据权利要求2所述的电子能损计算方法，其特征在于，所述将所述入射离子的所述原子序数、所述原子质量和所述动能，以及所述材料的所述原子序数和所述原子质量进行预处理，获得预处理后的参数，包括：

将所述入射离子的所述原子序数、所述原子质量和所述动能，以及所述材料的所述原子序数和所述原子质量进行正则化操作，以获得所述入射离子的所述原子序数、所述原子质量和所述动能，以及所述材料的所述原子序数和所述原子质量分别对应的平均值和标准差；

根据所述平均值和所述标准差，计算所述入射离子的所述原子序数、所述原子质量和所述动能，以及所述材料的所述原子序数和所述原子质量分别对应的正则化参数。