[发明专利]红外激光辐射强度可视化方法、电子设备及存储介质在审
申请号: | 202110314689.5 | 申请日: | 2021-03-24 |
公开(公告)号: | CN115131451A | 公开(公告)日: | 2022-09-30 |
发明(设计)人: | 田文彪;杜远方 | 申请(专利权)人: | 鸿富锦精密电子(郑州)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
主分类号: | G06T11/00 | 分类号: | G06T11/00;G01J5/10 |
代理公司: | 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 | 代理人: | 李艳霞 |
地址: | 451162 河南省*** | 国省代码: | 河南;41 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 红外 激光 辐射强度 可视化 方法 电子设备 存储 介质 | ||
本申请涉及光学测量领域,提供一种红外激光辐射强度可视化方法、电子设备及存储介质,所述红外激光辐射强度可视化方法包括:获取光线传感器发送的红外辐射图像数据;确定所述红外辐射图像数据对应的辐射强度分布和模组发光模式;根据所述辐射强度分布和所述模组发光模式,判断所述红外辐射图像数据是否符合预设标准;当确定所述红外辐射图像数据符合所述预设标准时,对所述红外辐射图像数据进行灰度处理,得到强度灰度图;对所述强度灰度图进行调色处理,生成可视化能量分布图。利用本申请可提高红外激光辐射强度的检测效率。
技术领域
本申请涉及光学测量领域,尤其涉及一种红外激光辐射强度可视化方法、电子设备及存储介质。
背景技术
智能终端可采用近红外光发射设备,实现3D感测应用。例如,采用衍射光学元件的结构光因其较高的测量精度和较低的资源占用率等优点被广大手机厂商采用,在市场上有很高的占有率。传统的近红外辐射测量方案一般采用一种称为测角仪的测试系统,在光电探测器或相机前面旋转近红外光光源来采集光线发射的2D图像,以评估每个角度的辐射强度。该过程十分耗时,需要进行数千次旋转才能采集完整的空间角度辐射分布。此外,两次测角旋转之间可能会产生测量间隙,这会导致遗漏某些空间角度点位上的辐射测量,导致获取的红外辐射数据不符合预设要求,导致检测效率不高。同时获取到的红外辐射数据也无法直观的观察到,导致检测效率不高。
发明内容
有鉴于此,本申请的主要目的在于提供一种红外激光辐射强度可视化方法、电子设备及存储介质,旨在解决提高红外激光辐射强度的检测效率的技术问题。
本申请的第一方面提供一种红外激光辐射强度可视化方法,所述红外激光辐射强度可视化方法包括:
获取光线传感器发送的红外辐射图像数据;
确定所述红外辐射图像数据对应的辐射强度分布和模组发光模式;
根据所述辐射强度分布和所述模组发光模式,判断所述红外辐射图像数据是否符合预设标准;
当确定所述红外辐射图像数据符合所述预设标准时,对所述红外辐射图像数据进行灰度处理,得到强度灰度图;
对所述强度灰度图进行调色处理,生成可视化能量分布图。
根据本申请的一个可选的实施例,所述确定所述红外辐射图像数据对应的辐射强度分布和模组发光模式包括:
提取所述红外辐射图像数据中的像素亮度数据;
查询预设的亮度辐射映射表,确定所述像素亮度数据对应的辐射强度;
根据所述辐射强度,确定所述红外辐射图像数据对应的辐射强度分布;
解析所述红外辐射图像数据,确定所述红外辐射图像数据对应的模组发光模式。
根据本申请的一个可选的实施例,所述解析所述红外辐射图像数据,确定所述红外辐射图像数据对应的模组发光模式包括:
提取所述红外辐射图像数据中的像素亮度数据,并确定所述像素亮度数据对应的矩阵坐标;
根据所述矩阵坐标,计算所述红外辐射图像数据对应的图像光斑密度;
根据所述图像光斑密度,确定所述红外辐射图像数据对应的模组发光模式。
根据本申请的一个可选的实施例,所述对所述红外辐射图像数据进行灰度处理,得到强度灰度图包括:
提取所述红外辐射图像数据中的图像像素;
以所述图像像素为圆心,构建灰度渐变圆;
基于所述灰度渐变圆,对所述图像像素进行灰度化处理,得到强度灰度图。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于鸿富锦精密电子(郑州)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司,未经鸿富锦精密电子(郑州)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110314689.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。