[发明专利]一种低成本零延时的SAR-ADC硬件校正算法在审

专利信息
申请号: 202110321763.6 申请日: 2021-03-25
公开(公告)号: CN113055007A 公开(公告)日: 2021-06-29
发明(设计)人: 戴锐;吴晓勇;崔松叶 申请(专利权)人: 深圳前海维晟智能技术有限公司
主分类号: H03M1/10 分类号: H03M1/10
代理公司: 深圳市兰锋盛世知识产权代理有限公司 44504 代理人: 罗炳锋
地址: 518000 广东省深圳市前海深港合作区前*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 低成本 延时 sar adc 硬件 校正 算法
【说明书】:

一种低成本零延时的SAR‑ADC硬件校正算法,采用如下处理步骤:S1、定义寄存器AM和寄存器AK,通过寄存器AM和寄存器AK配置一个硬件算法电路,寄存器AM的符号位为Fm,寄存器AK的符号位为Fk,硬件算法电路以ADC输出数据Ya为输入;S2、算法电路通过Ya获得校正值TEMP1,其中TEMP1=Ya+(Fm?AM:‑AM);S3、算法电路通过TEMP1获得校正值TEMP2,其中TEMP2=(Fk?AK:‑AK)*TEMP1;S4、算法电路根据校正值TEMP1和校正值TEMP2获得ADC输出数据校正值Yb,其中Yb=TEMP1+TEMP2。通过寄存器配置一个硬件算法电路,计算方法简单,不需要占用ADC的采样时间,能最简化计算ADC的校正,具有低消耗、零延时的特点。

技术领域

发明涉及SAR-ADC技术领域,具体的是一种低成本零延时的SAR-ADC硬件校正算法。

背景技术

逐次逼近寄存器型模数转换器(SAR-ADC)占据着大部分的中等至高分辨率ADC市场,其采样速率最高可达5Msps,分辨率为8位至18位。鉴于SAR架构允许高性能、低功耗ADC采用小尺寸封装,具有较高速度、较低成本、较高精度的特点,所以SAR-ADC尤其适合对尺寸要求严格的系统,广泛集成于MCU芯片中。

但由于生产工艺的偏差,每颗芯片的ADC特性都会有一点偏差,因此需要进行校正补偿,才能得到比较好的一致性。目前,常规的补偿方法是通过软件补偿,目前已知的硬件补偿方法普遍有存在资源消耗大,占用时钟等缺点。

发明内容

为了弥补现有技术的上述不足,本发明提供了一种低成本零延时的SAR-ADC硬件校正算法,其技术方案如下。

一种低成本零延时的SAR-ADC硬件校正算法,采用如下处理步骤:

S1、定义寄存器AM和寄存器AK,通过寄存器AM和寄存器AK配置一个硬件算法电路,寄存器AM的符号位为Fm,寄存器AK的符号位为Fk,硬件算法电路以ADC输出数据Ya为输入;

S2、算法电路通过Ya获得校正值TEMP1,其中

TEMP1=Ya+(Fm?AM:-AM);

S3、算法电路通过TEMP1获得校正值TEMP2,其中

TEMP2=(Fk?AK:-AK)*TEMP1;

S4、算法电路根据校正值TEMP1和校正值TEMP2获得ADC输出数据校正值Yb,其中

Yb=TEMP1+TEMP2。

与现有技术相比,本发明的有益效果在于:通过寄存器配置一个硬件算法电路,计算方法简单,不需要占用ADC的采样时间,能最简化计算ADC的校正,具有低消耗、零延时的特点。

下面,结合具体实施方式对本发明做进一步的说明。

具体实施方式

一种低成本零延时的SAR-ADC硬件校正算法,采用如下处理步骤:

S1、定义寄存器AM和寄存器AK,通过寄存器AM和寄存器AK配置一个硬件算法电路,寄存器AM的符号位为Fm,寄存器AK的符号位为Fk,硬件算法电路以ADC输出数据Ya为输入;

S2、算法电路通过Ya获得校正值TEMP1,其中

TEMP1=Ya+(Fm?AM:-AM);

S3、算法电路通过TEMP1获得校正值TEMP2,其中

TEMP2=(Fk?AK:-AK)*TEMP1;

S4、算法电路根据校正值TEMP1和校正值TEMP2获得ADC输出数据校正值Yb,其中

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