[发明专利]一种微变形激光准直测量方法有效

专利信息
申请号: 202110321854.X 申请日: 2021-03-25
公开(公告)号: CN112964191B 公开(公告)日: 2022-11-04
发明(设计)人: 陈静;万世平;陈耀洲 申请(专利权)人: 四川合众精准科技有限公司
主分类号: G01B11/16 分类号: G01B11/16;G01B11/02
代理公司: 成都立新致创知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 51277 代理人: 谭德兵
地址: 610000 四川省成都市中国(四川)自由贸易试验区*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 变形 激光 测量方法
【权利要求书】:

1.一种微变形激光准直测量方法,其特征在于,该方法步骤如下:

步骤1):初始状态下各监测点依次为A1、A2、A3、......An,并用全站仪测得初始状态下各监测点的初始坐标表示为Ai=(xi,yi),i=1~n;

步骤2):用步骤1)测得的各监测点坐标依次计算监测点间的初始间距为D1、D2、D3、......Dn-1与坐标方位角分别为α1、α2、α3、......αn-1

步骤3):定义位移后的各监测点A1'、A2'、A3'、......An',测得位移后的各相邻监测点之间的直线间距依次为D1'、D2'、D3'、......Dn-1';

步骤4):定期测量各监测点相较于上次监测点的位移量,依次记为d1、d2、d3、......dn,则有各监测点位移后坐标方位角变化量分别为Δα1、Δα2、Δα3、......Δαn-1,其中,其中为常量

步骤5):计算D1'、D2'、D3'、......Dn-1'与坐标方位角变化量Δα1'、Δα2'、Δα3'、......Δαn-1',则有:

α'n-1=αn-1+Δαn-1

步骤6):以任一监测点的初始坐标为监测基点,测量其相邻监测点的位移坐标,同时基于已求出的监测点的位移坐标,测量下一个监测点的位移坐标,则有:

监测点An=(xn,yn)为监测基点,则An+1'的坐标为:

则有,An+2'的坐标为:

步骤7):根据各监测点位移后的坐标与对应的初始坐标比较即得到各监测坐标的位移量;

所述的各监测点设置有激光发射装置和激光接收靶位用于测量各监测点之间初始间距D1、D2、D3、......Dn-1,以及位移后的直线间距D1'、D2'、D3'、......Dn-1',以及位移量d1、d2、d3、......dn

所述激光接收靶位采用磨砂面材料制成以消除或降低接收光斑的光晕。

2.根据权利要求1所述的一种微变形激光准直测量方法,其特征在于,所述激光接收靶位垂直于监测点所在平面,定义激光接收靶位的水平方向为x轴,垂直方向为y轴,则测得的x轴坐标即为该监测点的位移量d1、d2、d3、......dn,y轴坐标即为该监测点的沉降量。

3.根据权利要求2所述的一种微变形激光准直测量方法,其特征在于,所述初始间距D1、D2、D3、......Dn-1和位移后的直线间距D1'、D2'、D3'、......Dn-1'是利用激光发射装置的测距功能测量得到。

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