[发明专利]用于轴瓦基体和巴氏合金结合面的脱胎缺陷超声检测试块

权利要求书

1.一种用于轴瓦基体和巴氏合金结合面的脱胎缺陷超声检测试块，其特征在于，包括试块本体，其中，试块本体内设置有第一矩形槽人工缺陷(1)、第二矩形槽人工缺陷(2)、第三矩形槽人工缺陷(3)、第四矩形槽人工缺陷(4)、第五矩形槽人工缺陷(5)、第六矩形槽人工缺陷(6)、第七矩形槽人工缺陷(7)、第八矩形槽人工缺陷(8)、第九矩形槽人工缺陷(9)及第十矩形槽人工缺陷(10)，其中，第一矩形槽人工缺陷(1)、第二矩形槽人工缺陷(2)、第三矩形槽人工缺陷(3)、第四矩形槽人工缺陷(4)、第五矩形槽人工缺陷(5)、第六矩形槽人工缺陷(6)、第七矩形槽人工缺陷(7)、第八矩形槽人工缺陷(8)、第九矩形槽人工缺陷(9)及第十矩形槽人工缺陷(10)与试块本体上表面之间的距离不同，且第一矩形槽人工缺陷(1)、第二矩形槽人工缺陷(2)、第三矩形槽人工缺陷(3)、第四矩形槽人工缺陷(4)、第五矩形槽人工缺陷(5)、第六矩形槽人工缺陷(6)、第七矩形槽人工缺陷(7)、第八矩形槽人工缺陷(8)、第九矩形槽人工缺陷(9)及第十矩形槽人工缺陷(10)与试块本体左侧边缘之间的距离不同。

2.根据权利要求1所述的用于轴瓦基体和巴氏合金结合面的脱胎缺陷超声检测试块，其特征在于，试块本体的长度、宽度及高度分别为220mm、40mm及30mm。

3.根据权利要求1所述的用于轴瓦基体和巴氏合金结合面的脱胎缺陷超声检测试块，其特征在于，第一矩形槽人工缺陷(1)、第二矩形槽人工缺陷(2)、第三矩形槽人工缺陷(3)、第四矩形槽人工缺陷(4)、第五矩形槽人工缺陷(5)、第六矩形槽人工缺陷(6)、第七矩形槽人工缺陷(7)、第八矩形槽人工缺陷(8)、第九矩形槽人工缺陷(9)及第十矩形槽人工缺陷(10)的长度、宽度及高度均分别为40mm、1mm及0.5mm。

4.根据权利要求1所述的用于轴瓦基体和巴氏合金结合面的脱胎缺陷超声检测试块，其特征在于，试块本体表面的粗糙度小于等于1.6μm。

5.根据权利要求1所述的用于轴瓦基体和巴氏合金结合面的脱胎缺陷超声检测试块，其特征在于，第一矩形槽人工缺陷(1)与试块本体上表面之间的距离为1mm，第一矩形槽人工缺陷(1)与试块本体左侧边缘的距离为20mm；

第二矩形槽人工缺陷(2)与试块本体上表面之间的距离为2mm，第二矩形槽人工缺陷(2)与试块本体左侧边缘的距离为40mm；

第三矩形槽人工缺陷(3)与试块本体上表面之间的距离为3mm，第三矩形槽人工缺陷(3)与试块本体左侧边缘的距离为60mm。

6.根据权利要求1所述的用于轴瓦基体和巴氏合金结合面的脱胎缺陷超声检测试块，其特征在于，第四矩形槽人工缺陷(4)与试块本体上表面之间的距离为4mm，第四矩形槽人工缺陷(4)与试块本体左侧边缘的距离为80mm；

第五矩形槽人工缺陷(5)与试块本体上表面之间的距离为5mm，第五矩形槽人工缺陷(5)与试块本体左侧边缘的距离为100mm；

第六矩形槽人工缺陷(6)与试块本体上表面之间的距离为6mm，第六矩形槽人工缺陷(6)与试块本体左侧边缘的距离为120mm。

7.根据权利要求1所述的用于轴瓦基体和巴氏合金结合面的脱胎缺陷超声检测试块，其特征在于，第七矩形槽人工缺陷(7)与试块本体上表面之间的距离为8mm，第七矩形槽人工缺陷(7)与试块本体左侧边缘的距离为140mm；

第八矩形槽人工缺陷(8)与试块本体上表面之间的距离为10mm，第八矩形槽人工缺陷(8)与试块本体左侧边缘的距离为160mm；

第九矩形槽人工缺陷(9)与试块本体上表面之间的距离为12mm，第九矩形槽人工缺陷(9)与试块本体左侧边缘的距离为180mm。

8.根据权利要求1所述的用于轴瓦基体和巴氏合金结合面的脱胎缺陷超声检测试块，其特征在于，第十矩形槽人工缺陷(10)与试块本体上表面之间的距离为14mm，第十矩形槽人工缺陷(10)与试块本体左侧边缘的距离为200mm。