[发明专利]一种鬼成像采样系统、方法及装置

说明书

本发明公开了一种鬼成像采样系统、方法和装置，包括：处理器，用于依据各个光强分布规则生成多个调制指令，将每个调制指令分别发送至对应的SLM；SLM用于根据接收到的调制指令，对入射单色光的光强分布进行调制得到单色调制光；混合光调制器，用于将各个单色调制光进行混合后得到混合调制光；聚光器，用于将混合调制光聚焦于待检测物体上；混合光分离器，用于接收经待检测物体反射后的反射混合光或透射后的透射混合光，对反射混合光或透射混合光进行分离，得到各个反射单色光或透射单色光；桶探测器，用于接收对应的反射单色光或透射单色光，并进行光强测量得到对应的光强测量值；能够大大提高了采样效率，加速了采样过程，降低了采样时延。

技术领域

本发明实施例涉及鬼成像技术领域，特别是涉及一种鬼成像采样系统、方法及装置。

背景技术

传统鬼成像系统通过一个SLM(spatial light modulator，空间光调制器)对光源产生的空间光进行调制得到调制光源信号，其中具体调制过程是受计算机控制，调制后得到的调制光源信号通过透镜聚焦后照射至物体上，并通过一个桶探测器对经物体透射的透射光或者经物体反射后的反射光进行光强测量，将测量结果作为信号光路信号与SLM调制产生的调制光源信号进行关联计算，在计算机端进行成像计算。

鬼成像的过程是一个迭代成像的过程，每进行一次SLM的调制，即可以生成不同光场分布的照射光，则可以进行一次采样。经过多次迭代，即可以通过关联计算产生待测物体的衍射图像。在该成像过程中，需要对SLM进行多次调制，每调制完成一次进行一次采样，调制的次数与成像时间程正相关性，因此整体采用时间较长，导致采样时延较长，影响成像效率。

鉴于此，如何提供一种解决上述技术问题的鬼成像采样系统、方法及装置成为本领域技术人员需要解决的问题。

发明内容

本发明实施例的目的是提供一种鬼成像采样系统、方法及装置，在使用过程中大大提高了采样效率，加速了采样过程，降低了采样时延。

为解决上述技术问题，本发明实施例提供了一种鬼成像采样系统，包括：处理器、用于输出多个不同单色光的光源、与每个所述单色光分别对应的空间光调制器SLM、混合光调制器、聚光器、混合光分离器以及多个桶探测器，其中：

所述处理器，用于依据各个光强分布规则生成多个调制指令，并将每个所述调制指令分别发送至对应的SLM；

所述SLM，用于接收对应的单色光，并根据接收到的调制指令，对所述单色光的光强分布进行调制，并将得到单色调制光输出至所述混合光调制器；

所述混合光调制器，用于将各个所述单色调制光进行混合后得到混合调制光，并将所述混合调制光输出至所述聚光器；

所述聚光器，用于将所述混合调制光聚焦于待检测物体上；

所述混合光分离器，用于接收经所述待检测物体反射后的反射混合光或透射后的透射混合光，并对所述反射混合光或所述透射混合光进行分离，得到各个反射单色光或透射单色光；

所述桶探测器，用于接收对应的反射单色光或透射单色光，并进行光强测量得到对应的光强测量值。

可选的，所述处理器，具体用于依据随机算法得到多个光强分布规则，并根据各个所述光强分布规则生成多个调制指令，将每个所述调制指令分别发送至对应的SLM。

可选的，所述混合光分离器，具体用于接收经所述待检测物体反射后的反射混合光或透射后的透射混合光，并根据与每个所述单色光分别对应的频率对所述反射混合光或所述透射混合光进行分离，得到各个反射单色光或透射单色光。

可选的，所述光源包括多个单色光源，各个所述单色光源分别输出对应的单色光。

可选的，所述聚光器为透镜。

本发明实施例还提供了一种鬼成像采样方法，包括：