[发明专利]一种光耦测试方法及系统

说明书

本公开提供了一种光耦测试方法及系统，涉及电子技术领域。该测试方法包括：将若干光耦元件形成一光耦元件组合，所述若干光耦元件的输入端引脚以及接收端引脚全部短路连接；将所述光耦元件组合中的所有光耦元件都分别切开一个输入端正极引脚以及一个接收端集电极引脚；将若干探针形成一探针组合，其中所述探针组合中的探针数量和位置与所述光耦元件组合中被切开的输入端正极引脚以及接收端集电极引脚的数量和位置匹配；通过所述探针组合中的探针将所述光耦元件组合中所有被切开的输入端正极引脚以及接收端集电极引脚与测试仪器连接起来；所述测试仪器获取所述光耦元件组合中每个光耦元件的测试数据。

技术领域

本发明涉及电子技术领域，具体为一种光耦测试方法及系统。

背景技术

光电耦合器（optical coupler，英文缩写为OC）亦称光电隔离器，简称光耦，它是以光为媒介来传输电信号的器件，通常把发光器（红外线发光二极管LED）与受光器（光敏半导体管，光敏电阻）封装在同一管壳内，当输入端加电信号时发光器发出光线，受光器接收光线之后就产生光电流，从输出端流出，从而实现了“电—光—电”控制，以光为媒介把输入端信号耦合到输出端的光电耦合器，由于它具有体积小、寿命长、无触点，抗干扰能力强，输出和输入之间绝缘，单向传输信号等优点，在数字电路上获得广泛的应用。

在现有技术中的光耦生产流程中，通常是在对光耦分散成型后再对每一个光耦进行测试，即测试是单颗进行的，这样做的话使得测试效率低，生产成本高，且很容易混料。

本发明申请人发现现有技术至少存在如下技术问题：

在现有技术中，光耦生产流程中，通常是在对光耦分散成型后再对每一个光耦进行测试，即测试是单颗进行的，这样做的话使得测试效率低，生产成本高，且很容易混料的技术问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种光耦测试方法及系统，以解决上述背景技术中提出的技术问题。

为实现上述目的，根据本发公开的一个方面，提供了一种光耦测试方法，所述测试方法包括：

将若干光耦元件形成一光耦元件组合，所述若干光耦元件的输入端引脚以及接收端引脚全部短路连接；

将所述光耦元件组合中的所有光耦元件都分别切开一个输入端正极引脚以及一个接收端集电极引脚；

将若干探针形成一探针组合，其中所述探针组合中的探针数量和位置与所述光耦元件组合中被切开的输入端正极引脚以及接收端集电极引脚的数量和位置匹配；

通过所述探针组合中的探针将所述光耦元件组合中所有被切开的输入端正极引脚以及接收端集电极引脚与测试仪器连接起来；

所述测试仪器获取所述光耦元件组合中每个光耦元件的测试数据。

在一种可能实现的方式中，所述获取所述光耦元件组合中每个光耦元件的测试数据的方法具体包括：

通过所述测试仪器在所述光耦元件组合中每一个光耦元件被切开的输入端正极引脚依次输入第一电流值的电流；

通过所述测试仪器在所述光耦元件组合中每一个光耦元件被切开的接收端集电极引脚依次施加电压，并测试接收端集电极引脚处的第二电流值；

根据所述第一电流值和所述第二电流值，通过第一算法得出所述光耦元件组合中每个光耦元件的测试数据；

所述第一算法为：

（1）

其中，表示所述测试数据，表示所述第一电流值，表示所述所述第二电流值。

在一种可能实现的方式中，所述光耦元件组合中每一个光耦元件未切开的引脚均接地连接。

在一种可能实现的方式中，在所述获取所述光耦元件组合中每个光耦元件的测试数据后，所述方法还包括：

对所述光耦元件组合中的每一个光耦元件分配坐标值；

对所述测试数据按照预设方式进行分档，对于不同档位的测试数据采用预设标志进行记录；