[发明专利]一种动态随机存储器的测试方法及系统

说明书

本发明公开了一种动态随机存储器的测试方法及系统，具体包括以下步骤：步骤一、准备操作；步骤二、数据测试；步骤三、问题诊断；步骤四、中值选定；步骤五、问题定位；步骤六、展示记录；本发明涉及存储器测试技术领域。该动态随机存储器的测试方法及系统，通过划分出N个测试单元模块，并按照顺序将初始存储信息传递到下一个测试单元模块中，所以只需要比较第N个单元数据与第一个单元写入的数据是否一致，就可以判断该存储器的数据是否有损坏，而不需要比较全部的单元，并且采用读取N‑1单元模块数据到N单元模块内的存储方式能提高测试速度，这样不仅可以缩短测试时间，提高测试产能，还可以有效降低测试成本。

技术领域

本发明涉及存储器测试技术领域，具体为一种动态随机存储器的测试方法及系统。

背景技术

DRAM，即动态随机存取存储器，最为常见的系统内存。DRAM只能将数据保持很短的时间，为了保持数据，DRAM使用电容存储，所以必须隔一段时间刷新一次，如果存储单元没有被刷新，存储的信息就会丢失。

随着集成电路的发展，制成越来越微缩，集成电路的密度越来越高，速度越来越高，与此同时，随着密度和速度提高，集成电路的故障率也随着提高，尤其在动态随机存储器，不能允许1个BIT数据的错误，否者产品运用在手机、平板等设备中会造成系统死机、重启应用程序崩溃等不良现象发生，集成电路wafer除了出厂后的cp测试，还需要做严格的后端测试，在动态随机存储器的测试中，测试时间和测试覆盖率很关键。

基于对上述资料的检索，可以看出现有技术的主要缺陷具体包括：测试算法测试时间长，造成测试成本高，测试中，主要在测试数据比较运算过程，比较花费比较器运算的时间，尽量缩短比较运算的次数，来降低整个测试过程花费的时间，本发明提供一种动态随机存储器的测试方法及系统，缩短测试比较次数，降低测试花费的时间。

发明内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本发明提供了一种动态随机存储器的测试方法及系统，解决了目前测试算法测试时间长，造成测试成本高的问题。

(二)技术方案

为实现以上目的，本发明通过以下技术方案予以实现：一种动态随机存储器的测试方法，具体包括以下步骤：

步骤一、准备操作：客户端通过无线通讯模块连接测试交互单元后，登录到存储测试系统中后，通过划分确定模块对DRAM空间的划分进行确定，然后通过空间划分单元把DRAM空间划分为N个测试单元模块，然后通过信息输入模块向初始值设定模块中输入初始存储信息，之后通过数据写入模块将初始存储信息存储到一个测试单元模块中，标记为初始模块；

步骤二、数据测试：利用数据写入模块向步骤一中标记的初始模块中写入初始存储信息，之后复制初始模块中的初始存储信息至第二个测试单元模块中，以此类推，确保将N-1单元模块的数据复制到N单元模块中，直至初始存储信息可以逐次填充到N个单元模块中，其中对于N值，用户通过N值选定模块进行选定；

步骤三、问题诊断：通过数据对比模块对第N个单元模块的数据和初始存储信息进行比较，若第N个单元数据与初始存储信息不一致，就可以判断数据有损坏则测试不通过，进入步骤四，反之，数据一致，则测试通过，进入步骤六，直接完成测试；

步骤四、中值选定：利用中值筛分单元将步骤一中的初始模块设定为首尾确定模块中的首端，将检测末端的单元模块作为尾端，对首端到尾端这一段的单元模块进行记录确定，待检测到数据损坏后，原始首端和尾端不变，通过异常标记模块对检测出损坏的单元模块进行标记，作为后段检测的首端，并与原始尾端构成一段新的单元模块检测区域，此时通过中值确定模块对新的单元模块检测区域进行等值划分，然后重复步骤三中的步骤，进行数据测试；

步骤五、问题定位：根据步骤四中的测试的结果，选择数据损坏异常的一组，再次重复步骤四中的操作，直至定位出损坏的单元模块；