[发明专利]灵活边带支持系统和方法

说明书

本公开提供了灵活边带支持系统和方法。提出的实施例促进了测试系统中的不同类型的测试过程的高效且有效的灵活实现。在一个实施例中，一种灵活边带支持系统包括负载板、耦合到负载板的测试电子设备、耦合到测试电子设备的控制器。负载板被配置为与多个被测装置(DUT)耦合，其中负载板包括带内测试端口和边带测试端口。测试电子设备被配置为测试多个DUT，其中测试电子设备的一部分被组织在边带资源群组中。控制器被配置为引导DUT的测试，其中控制器耦合到测试电子设备并且控制器引导边带资源群组中的测试电子设备向DUT的各种测试操作的选择性分配。在一个示范性实现方式中，控制器同时引导对多个DUT的边带测试的一部分。

相关申请

本申请要求2020年3月31日递交的标题为Flexible Sideband Support Systemsand Methods(代理人案卷号ATSY-0084)的临时申请63/002,842的权益和优先权，这里通过引用将该临时申请并入。

技术领域

本发明涉及电子测试的领域。

背景技术

电子系统和装置为现代社会的进步做出了重大贡献，并且促进了生产力的提高，以及降低了在各种商业、科学、教育和娱乐应用中分析和交流信息的成本。传统的测试系统和方法经常具有各种局限。

过去，测试器在处理DUT边带通信的不同类型协议方面是有一些受限的。此外，传统上对于每个DUT存在一个FPGA测试资源的固定关系。这些条件或特性的组合对于测试能力施加了若干约束并且实际上阻止了并行边带测试。

发明内容

提出的实施例促进了测试系统中的不同类型的测试过程的高效且有效的灵活实现。在一个实施例中，一种灵活边带支持系统包括负载板、耦合到负载板的测试电子设备、耦合到测试电子设备的控制器。负载板被配置为与多个被测装置(DUT)耦合，其中负载板包括带内测试端口和边带测试端口。测试电子设备被配置为测试多个DUT，其中测试电子设备的一部分被组织在边带资源群组中。控制器被配置为引导DUT的测试，其中控制器耦合到测试电子设备并且控制器引导边带资源群组中的测试电子设备向DUT的各种测试操作的选择性分配。在一个示范性实现方式中，控制器同时引导对多个DUT的边带测试的一部分。

在一个实施例中，控制器包括支持与边带测试操作相关联的多个协议的灵活固件配置。在一个示范性实现方式中，多个资源可被指派到多个DUT中的特定一个。边带资源群组可包括对于如下协议的边带支持：通用输入/输出(General Purpose Input/Output，GPIO)协议、通用异步接收器-发送器(Universal Asynchronous Receiver-Transmitter，UART)、集成电路间(Inter-Integrated Circuit，I2C)协议、基于I2C的UART协议、快速非易失性存储器-管理接口(Non-Volatile Memory Express-Management Interface，NVME-MI)协议、唯一输入/输出(Unique Input/Output，UIO)协议、活动性ACT协议、以及暂停时钟(Suspend Clock，SUSCLK)协议。

在一个实施例中，一种灵活边带支持方法包括：将多个被测装置(DUT)耦合到测试电子设备，其中该耦合包括带内测试端口和边带测试端口；配置测试电子设备来测试多个DUT，其中测试电子设备的一部分被组织在边带资源群组中；并且引导测试，包括边带资源群组中的测试电子设备向DUT的各种测试操作的选择性分配。在一个示范性实现方式中，引导包括同时引导对多个DUT的边带测试的一部分。多个资源可被指派到多个DUT中的特定一个。

附图说明

包括在本说明书中并构成本说明书一部分的附图是为了示范性地图示本发明的原理而包括的，而并不意图将本发明限制到其中图示的特定实现方式。附图不是按比例的，除非另有具体指示。

图1是根据一个实施例的示范性测试环境或系统的框图。