[发明专利]清洗部件的清洗装置、基板清洗装置及清洗部件组件在审
申请号: | 202110333492.6 | 申请日: | 2021-03-29 |
公开(公告)号: | CN113471100A | 公开(公告)日: | 2021-10-01 |
发明(设计)人: | 梶川敬之;饭泉健;今井正芳 | 申请(专利权)人: | 株式会社荏原制作所 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 | 代理人: | 张丽颖 |
地址: | 日本国东京都*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 清洗 部件 装置 组件 | ||
作为本发明的一方式,清洗部件的清洗装置具有:保持虚设基板(Wd)的基板支承部(200);保持具有清洗部件(90)的清洗部件组件(1)的保持部(100);使所述清洗部件旋转的部件旋转部(80);向所述清洗部件内供给清洗液的内清洗液供给部(110);从所述清洗部件外供给清洗液的外清洗液供给部(120);进行控制,以进行一边以第一压力将所述清洗部件按压于所述虚设基板一边从所述外清洗液供给部向虚设基板供给清洗液的第一处理和一边使所述清洗部件从所述虚设基板离开或以第一压力以下的第二压力将所述清洗部件按压于所述基板一边从内清洗液供给部供给清洗液的第二处理的控制部(350)。
技术领域
本发明涉及一种用于对清洗部件进行清洗的清洗部件的清洗装置、基板清洗装置及清洗部件组件。
背景技术
以往,在新的清洗部件附着有污染物,需要将它们去除而进行初始化之后再使用。另外,还存在如下问题:当使用洁净化后的清洗部件持续清洗基板时,例如存在于处理对象的基板上的研磨浆料这样的基板上的颗粒在清洗部件堆积,从而使清洗能力降低。为了解决这样的问题,在日本特开2016-152345号中公开了一种基板清洗装置,该基板清洗装置使基板旋转,并且一边使清洗部件接触旋转的基板一边对基板进行清洗。在该基板清洗装置中设置有:自清洗部件,该自清洗部件设置于支承清洗部件的臂,并与清洗部件接触而进行清洗部件的自清洗;以及移动机构,该移动机构设置于支承清洗部件的臂,并使自清洗部件在与清洗部件接触的位置和从清洗部件离开的位置之间移动。
发明所要解决的技术问题
在日本特开2016-152345号中还公开了向清洗部件与自清洗部件的接触部供给清洗液的方式,但在像这样的以往的从外侧向清洗部件与自清洗部件的接触部供给清洗液的方式中,已知有如下技术问题:例如在使用最近研究的特定的浆料进行基板研磨后的清洗过程中,存在粒子去除性能不能满足期待的性能的可能性等。
发明内容
本发明提供一种能够有效地对清洗部件进行清洗的清洗部件的清洗装置、基板清洗装置及清洗部件组件。
用于解决技术问题的技术手段
[概念1]
本发明的清洗部件的清洗装置可以具备:
基板支承部,该基板支承部保持基板;
保持部,该保持部保持具有清洗部件的清洗部件组件;
部件旋转部,该部件旋转部使所述清洗部件旋转;
内清洗液供给部,该内清洗液供给部向所述清洗部件内供给清洗液;
外清洗液供给部,该外清洗液供给部从所述清洗部件外供给清洗液;以及
控制部,该控制部进行控制,以进行第一处理和第二处理,该第一处理一边以第一压力将所述清洗部件按压于所述基板,一边从所述外清洗液供给部向基板供给清洗液,该第二处理一边使所述清洗部件从所述基板离开或以第一压力以下的第二压力将所述清洗部件按压于所述基板,一边从内清洗液供给部供给清洗液。
[概念2]
在概念1的清洗部件的清洗装置中,可以是,
在所述第二处理的期间,停止从所述外清洗液供给部向所述基板供给清洗液。
[概念3]
在概念1的清洗部件的清洗装置中,可以是,
在所述第二处理的期间,也进行从所述外清洗液供给部向所述基板的清洗液的供给。
[概念4]
在概念1~3中的任一个清洗部件的清洗装置中,可以是,
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造