[发明专利]推定系统、推定装置以及推定方法有效

专利信息
申请号: 202110333794.3 申请日: 2021-03-29
公开(公告)号: CN113532354B 公开(公告)日: 2023-10-27
发明(设计)人: 伊藤俊平;田中仁章;波津久达也;井原智则;盛田元彰 申请(专利权)人: 横河电机株式会社
主分类号: G01B21/08 分类号: G01B21/08;G01K7/02;G01K7/16;G01J5/00
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 何立波;张天舒
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 推定 系统 装置 以及 方法
【说明书】:

推定系统具有:获取部,其获取供流体流动的配管的外表面温度的测定值;推测部,其推测配管的内表面的析出物的去除处理的执行时刻;校正部,其利用推测出的析出物的去除处理的执行时刻之后的规定时间内获得的配管的外表面温度的测定值,对用于析出物的厚度的推定的推定值进行校正;以及推定部,其基于校正后的推定值和配管的外表面温度的测定值而对析出物的厚度进行推定。

技术领域

本发明涉及推定系统、推定装置以及推定方法。

本申请要求2020年3月31日申请的日本专利申请第2020-063026号的优先权,这里引用其内容

背景技术

以往已知流体中含有的物质的析出物会附着于供该流体流动的配管的内表面(流路壁)。例如,已知水合物、蜡、沥青或者管垢(scale)之类的析出物根据温度以及压力的条件而附着于油以及气体的管线。例如,通过使称为清管器的器具从管线的内侧通过、或者将阻碍析出物的产生的阻碍剂投入管线中而将这种析出物从管线的内表面去除。当前,对附着于配管内表面的析出物的厚度进行推定,在该厚度超过阈值的情况下,执行上述去除处理。美国专利第6644848号说明书、美国专利第8960305号说明书、日本特开2016-166781号公报以及美国专利申请公开第2004/0059505号说明书中分别公开了附着于配管内表面的析出物的厚度的推定方法。

但是,为了对附着于配管内表面的析出物的厚度进行推定,有时需要配管的外表面温度、配管中流动的流体的温度、配管的外侧及内侧的导热率、以及析出物的导热率等各物理量。上述物理量中存在在管线等现场能够测定的物理量、以及无法测定的物理量。因此,为了对析出物的厚度进行推定,有时代替无法测定的物理量而采用推定值。然而,在推定值和真实值的偏离较大的情况下,存在如下问题,即,无法使配管内表面的析出物的厚度的推定误差收敛于规定范围。

另外,特别是在管线等设置于自然环境下的配管的情况下,存在如下问题,即,容易引起周围的环境变化(埋设配管等),推定值与真实值的偏离容易增大。

发明内容

为了解决上述问题,本发明的一个方式所涉及的推定系统具有:获取部(40),其获取供流体流动的配管(200)的外表面温度的测定值;推测部(3),其推测所述配管(200)的内表面的析出物的去除处理的执行时刻;校正部(42),其利用所述析出物的去除处理的执行时刻的推测结果之后的规定时间内获得的所述配管的外表面温度的测定值,对用于所述析出物的厚度的推定的推定值进行校正;以及推定部(43),其基于校正后的所述推定值和所述配管(200)的外表面温度的测定值,对所述析出物的厚度进行推定。

另外,关于本发明的一个方式所涉及的推定系统,所述校正部(42)以使得所述析出物的厚度的推定结果小于或等于预先规定的阈值的方式,对所述推定值进行校正。

另外,关于本发明的一个方式所涉及的推定系统,所述校正部(42)对所述析出物的导热率的所述推定值、所述配管(200)的内侧的流体的温度的所述推定值、所述配管(200)的外侧的流体的温度的所述推定值、所述配管(200)的内侧的导热率的所述推定值以及所述配管(200)的外侧的导热率的所述推定值中的至少一个进行校正。

另外,关于本发明的一个方式所涉及的推定系统,所述获取部(40)还获取所述配管(200)的外表面的热通量的测定值、以及将所述配管(200)的外表面覆盖的隔热件的内部温度的测定值中的至少一个,所述推定部(43)基于所述配管(200)的外表面的热通量的测定值及所述隔热件的内部温度的测定值中的至少一个、所述配管(200)的外表面温度的测定值、以及校正后的所述推定值,对所述析出物的厚度进行推定。

另外,关于本发明的一个方式所涉及的推定系统,所述推测部(3)根据检测或预测出所述析出物的去除处理的时刻而推测所述析出物的去除处理的执行时刻,所述校正部(42)利用所述析出物的去除处理的执行时刻的推测结果之后的规定时间内获得的所述配管(200)的外表面温度的测定值,对所述推定值进行校正。

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