[发明专利]自动定位头影测量标志点的方法在审
申请号: | 202110333910.1 | 申请日: | 2021-03-29 |
公开(公告)号: | CN113065552A | 公开(公告)日: | 2021-07-02 |
发明(设计)人: | 魏建国;石启萌;王璐 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | G06K9/32 | 分类号: | G06K9/32;G06K9/46;G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人: | 刘国威 |
地址: | 30007*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 自动 定位 测量 标志 方法 | ||
1.一种自动定位头影测量标志点的方法,其特征是,步骤如下:
步骤一,X线头颅侧位片的数据准备:所标注的数据集以及实验过程中训练集、测试集均来自医院建立的二维X线头颅侧位片数据库;
步骤二,在训练集中获取医生的标注点,进行特征选择:首先将训练集中标注点的平均形状作为模型初始值以便测试,将X线侧位片中像素点的强度作为特征,将医生标注点附近一定范围内的像素点和点之间的距离作为特征池;
步骤三,训练第一层回归树模型,每经过一级级联回归器,对所有标志点的位置更新一次,使其更靠近标注点,计算当前形状与真实形状之间的差值作为残差;
步骤四,训练级联网络中每一级的回归器,使用平均形状对整体的解剖学标志点的位置进行粗略估计,采用梯度提升算法训练回归器,减小初始值与真实值之间的平方误差,得到每一级的级联回归因子,每个回归器由当前形状和残差训练获得;
步骤五,将当前形状更新为当前形状+残差,构造级联残差回归树,根据特征进行节点分裂,在特征池中随机挑选两个点,计算每一张图片在两点的像素值及像素差,随机产生分裂阈值,对阈值进行判断,则一个节点分裂完成,直到分裂到叶子节点。
2.如权利要求1所述的自动定位头影测量标志点的方法,其特征是,步骤三和步骤四详细描述如下:
步骤三,第一级回归模型训练过程,对于数据集(I1,S1),...(In,Sn),I1为第i张图片,Si为标志点的位置,是第一层级联回归的第t层预测的关键点位置,是该层回归的结果和真实值的差值,按照如下方式层层迭代,在第t层级联中产生γt的回归器,即第一级回归训练得到的模型:
步骤四,用梯度提升树来学习每一级回归器,构造级联残差回归树,减少初始形状和真实值之间的平方误差:
评估方法,由平均径向误差MRE和成功检测率两个方面来评估:
径向误差R由下式得出,
其中Δx和Δy分别为水平和竖直方向所检测到的标志点与真实标志点的绝对差值,平均径向误差MRE的计算公式如下,其中n为图片的数量:
若检测到的标志点与真实标志点绝对差值不大于z mm,则认为该地标的检测是准确的检测;否则,视为误检,准确度小于z mm时成功检测率Pz的公式为:
医学上z一般取2mm,2.5mm,3mm,4mm,通常认为检测的结果点与真实标志点之间距离的绝对差值不大于4mm,则认为此检测为有效的检测;绝对差值不大于2mm,则认为此检测结果准确。
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